在使用谱仪进行样品的放射性测量时,本底计数率就是指样品中的天然本底引起的计数率。

在使用谱仪进行样品的放射性测量时,本底计数率就是指样品中的天然本底引起的计数率。


相关考题:

下列关于流式细胞仪的描述,哪项是正确的A、仅适用于对单一细胞悬液进行测量B、分选活细胞时均应使用固定液固定样品C、样品测量前均应经过荧光染色D、选用相同的激发光波长测定样品E、进行双标记测量时,应尽量选用激发光谱接近的荧光色素

在本底计数不可忽略的条件下,净计数率是样品计数率与本底计数A.之和B.之差C.之商D.之积E.之差的2倍

放射性测量中,所谓本底计数是指A.房间空气中的放射性物质造成的计数B.测量设备中的放射性物质造成的计数C.宇宙线造成的计数D.测量装置被污染造成的计数E.移去待测样品条件下测得的装置的计数

放射性测量中,所谓本底计数是指()。A、房间空气中的放射性物质造成的计数B、测量设备中的放射性物质造成的计数C、宇宙线造成的计数D、测量装置被污染造成的计数E、移去待测样品条件下测得的装置的计数

样品中如有铯-134、铯-136和铯-138存在,必须用低本底γ谱仪进行铯-137测定。

在使用六速仪时,样品应倒入专用样品杯中多少为合适?

某一放射性气溶胶样品取样流量25L/min,取样时间40分钟,滤材过滤效率50%,样品自吸收系数0.5,探测效率20%,3天后测得样品计数率20cps,本底计数率10cps,则相应3人工放射性浓度为()Bq/m3。A、200B、50C、12.5D、0.5

活性炭盒法测氡:如果不能同一天测完样品,注意分析氡浓度时要用()的活性炭本底谱和活性炭标准源谱分析计算同一天测量的样品谱。A、计算当天B、同一天C、第二天D、第三天

如果不能同一天测完样品,注意分析氡浓度时要用()的活性炭本底谱和活性炭标准源谱分析计算同一天测量的样品谱。A、计算当天B、同一天C、第二天D、第三天

303极谱仪测试样品前,仪器自检正常,测试样品时极谱曲线为一直线,请分析故障原因。

岩性密度测井仪本底各窗口的计数率(在稳谱状态)一般在下列范围:长源距窗口计数率(NLS)为(),短源距窗口计数率(NSS)为();岩性能窗口计数率(NLITH)为()。

有一水中放射性浓缩样品总β测量结果及相关数据如下:样品计数率40cps,本底计数率10cps,浓缩水样体积2L,质量3.0g,取测质量0.1g,探测效率20%,放射性回收率70%,自吸收校正因子0.8,则该水样总放射性浓度为()Bq/L。A、2.9B、4.5C、7.7X102D、4.0X103

放射性计数的统计规律,本底对样品测量有何影响()A、增加样品总计数,提高探测效率B、增大样品净计数率的误差C、降低样品净计数率的误差D、本底统计涨落与样品计数的统计涨落相互抵消,使样品净计数率误差为0E、增加样品总计数,减低探测效率

利用P-K仪进行样品分析时,测定完毕后,随机打印结果,对每个样品多次测量取(),以避免因样品的非均质性造成偏差过大。

在微量水的使用过程中,若需扩大水分析仪的测量范围,可采取减小样品气的()或在样品进入检测器前将干气体与样品气按一定比例混合后再进行检测的方法。A、压力B、温度C、流量D、排放

依照《建筑材料放射性核素限量》(GB6566—2001),对要求的各种放射性核素进行测量,必须在检验样品中天然放射性衰变链基本达到()后。

《建筑材料放射性核素限量》(GB6566-2001)中规定,对建筑材料中放射性水平进行测量所使用的仪器设备应为()。A、α谱仪B、β谱仪C、γ谱仪D、表面污染仪

根据《建筑材料放射性核素限量》(GB6566--2001),在使用谱仪进行样品的放射性测量时,测量结果的误差与测量时间有关。

测定水中和生物样品灰中铯-137时,试剂空白试样的平均计数率和标准误差应在仪器本底计数及其统计误差范围内。

判断题在使用谱仪进行样品的放射性测量时,本底计数率就是指样品中的天然本底引起的计数率。A对B错

单选题《建筑材料放射性核素限量》(GB6566-2001)中规定,对建筑材料中放射性水平进行测量所使用的仪器设备应为()。Aα谱仪Bβ谱仪Cγ谱仪D表面污染仪

判断题根据《建筑材料放射性核素限量》(GB6566--2001),在使用谱仪进行样品的放射性测量时,测量结果的误差与测量时间有关。A对B错

单选题活性炭盒法测氡:如果不能同一天测完样品,注意分析氡浓度时要用()的活性炭本底谱和活性炭标准源谱分析计算同一天测量的样品谱。A计算当天B同一天C第二天D第三天

判断题测定水中和生物样品灰中铯-137时,试剂空白试样的平均计数率和标准误差应在仪器本底计数及其统计误差范围内。A对B错

判断题样品中如有铯-134、铯-136和铯-138存在,必须用低本底γ谱仪进行铯-137测定。A对B错

单选题放射性计数的统计规律,本底对样品测量有何影响()A增加样品总计数,提高探测效率B增大样品净计数率的误差C降低样品净计数率的误差D本底统计涨落与样品计数的统计涨落相互抵消,使样品净计数率误差为0E增加样品总计数,减低探测效率

填空题利用P-K仪进行样品分析时,测定完毕后,随机打印结果,对每个样品多次测量取(),以避免因样品的非均质性造成偏差过大。