填空题光子探头系统故障,01热靶损伤主要原因为()线断。

填空题
光子探头系统故障,01热靶损伤主要原因为()线断。

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相关考题:

THDS-A探测系统中光子探头工作方式为()A、直流探头B、调制探头C、热敏探头D、热释电探头

三型机的光子探头采用()为参考背景。A、大门B、调制盘C、热靶D、室内环境

在三型机中,盘温可代表()。A、环温B、热靶温度C、探头内部温度D、光子器件温度

THDS-A(哈科所)探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是()。A、热靶加热不足B、曲线斜率故障C、探头输出溢出D、热靶加热过快E、起始温度异常

属于THDS-A红外轴温探测系统内探功放板作用的是()A、控制大门的开关B、控制热敏探头调制盘电机C、控制光子探头调制盘电机D、内探热靶的加热E、外探热靶的加热

光子探头系统故障,01热靶损伤主要原因为()线断。

(康拓)THDS-A系统校零板实现对两个()校零的电路板。A、光子探头B、热敏探头C、热靶D、碲镉汞光子器件

THDS-A红外轴温探测系统中功放板可以实现对下列()部件的电源控制。A、光子探头B、热敏探头C、调制盘电机D、挡板电机E、热靶

HTK型光子探头热靶由印刷电路板、铂电阻、均热板、()、热辐射涂料组成,其作用是跟踪探头的特性变化,转换光子探头的输出温度。A、电热丝B、AD590C、热电阻D、加热镆

THDS-C探测站光子自适应系统故障提示热靶起始温度异常,可能的原因是()。A、热靶和板温绝对差为4度B、热靶比板温高8度C、热靶温度为-50度D、热靶比板温低5度

(哈科)THDS-B系统衡柳线使用的外探探头采用()。A、光子调制探头B、光子直流探头C、热敏调制探头D、热敏直流探头

THDS-A红外轴温探测系统校零板的作用是()A、对热靶温度进行校零B、对光子探头的光子器件温度进行校零C、对制热敏探头的挡板温度进行校零D、对热敏探头输出电压进行校零

热靶的作用是跟踪探头(),转换光子探头()。

THDS-BS系统更换光子探头后需要清除热靶曲线。

THDS-A轴温探测系统中来自于光子探头内部的温度信号是()A、环境温度B、热靶温度C、机柜温度D、调制盘温度

THDS-A轴温探测系统调制盘位于()A、热靶大门组件B、扫描器下上盖C、扫描器下箱体D、光子探头内部

单选题THDS-A红外轴温探测系统校零板的作用是()A对热靶温度进行校零B对光子探头的光子器件温度进行校零C对制热敏探头的挡板温度进行校零D对热敏探头输出电压进行校零

多选题THDS-A(哈科所)探测站中能在完成光子校曲线后产生的故障下列描述正确的是()。A热靶加热不足B曲线斜率故障C探头输出溢出D热靶加热过快E起始温度异常

单选题THDS-A红外轴温探测系统校零板实现对两个()校零的电路板。A光子探头B热敏探头C热靶D碲镉汞光子器件

单选题(康拓)THDS-A系统校零板实现对两个()校零的电路板。A光子探头B热敏探头C热靶D碲镉汞光子器件

多选题属于THDS-A红外轴温探测系统内探功放板作用的是()A控制大门的开关B控制热敏探头调制盘电机C控制光子探头调制盘电机D内探热靶的加热E外探热靶的加热

填空题光子探头系统故障,01热靶损伤主要原因为()线断。

判断题THDS-BS系统更换光子探头后需要清除热靶曲线。A对B错

单选题HTK型光子探头热靶由印刷电路板、铂电阻、均热板、()、热辐射涂料组成,其作用是跟踪探头的特性变化,转换光子探头的输出温度。A电热丝BAD590C热电阻D加热镆

填空题热靶的作用是跟踪探头(),转换光子探头()。

单选题THDS-C探测站光子自适应系统故障提示热靶起始温度异常,可能的原因是()。A热靶和板温绝对差为4度B热靶比板温高8度C热靶温度为-50度D热靶比板温低5度

单选题THDS-A探测系统中光子探头工作方式为()A直流探头B调制探头C热敏探头D热释电探头

多选题THDS-A红外轴温探测系统中功放板可以实现对下列()部件的电源控制。A光子探头B热敏探头C调制盘电机D挡板电机E热靶