单选题仪器测距标尺满刻度已校准为深度200mm,如缺陷回波前沿显示于刻度3.5上,则该缺陷的深度为()。A35mmB70mmC47.5mmD65mm
单选题
仪器测距标尺满刻度已校准为深度200mm,如缺陷回波前沿显示于刻度3.5上,则该缺陷的深度为()。
A
35mm
B
70mm
C
47.5mm
D
65mm
参考解析
解析:
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仪器测距标尺满刻度校准为150mm声程后,用折射角为45°的斜探头探测100mm厚钢板,发现一缺陷回波前沿显示于刻度8上,则该缺陷离探测面的距离和它在探测面上投影点至探头入射的距离分别是() A、120和60mmB、85和85mmC、60和120mmD、85和42.5mm
超声波检测过程中,发现下列()之一者,即作为缺陷。A、缺陷一次回波波高不小于满刻度的50%B、当底波波高未达到满刻度,而缺陷一次回波波高与底波波高之比不小于50%C、当底波波高小于满刻度的50%D、缺陷一次回波波高小于满刻度的50%
仪器测距标尺满刻度校准为150mm声程后,用折射角45°的斜探头探测100mm厚钢板,发现一缺陷回波前沿显示于刻度8上,则该缺陷离探测面的距离和它在探测面上投影点至探头入射的距离分别是85mm和85mm。
为了测定缺陷深度,必须校正仪器测距,当示波屏上水平刻度标尺满刻度代表深度距离200mm钢时,则厚度为50mm的钢板的第一次和第二次底面回波前沿应对准刻度()。A、3和6上B、2.5和5上C、2和4上D、5和10上
单选题仪器测距标尺满刻度校准为150mm声程后,用折射角为45°的斜探头探测100mm厚钢板,发现一缺陷回波前沿显示于刻度8上,则该缺陷离探测面的距离和它在探测面上投影点至探头入射的距离分别是:())A120和60mmB85和85mmC60和120mmD85和42.5mm
单选题为了测定缺陷深度,必须校正仪器测距,当示波屏上水平刻度标尺满刻度代表深度距离200mm钢时,则厚度为50mm的钢板的第一次和第二次底面回波前沿应对准刻度()。A3和6上B2.5和5上C2和4上D5和10上
单选题用K2.5探头探测厚度为45mm的焊缝,仪器按水平1:2.5调节扫描速度,探伤中示波屏上水平刻度3.5大格处发现一缺陷波,此缺陷距探测面的深度为()。A35mmB30mmC10mmD40mm
多选题超声波检测过程中,发现下列()之一者,即作为缺陷。A缺陷一次回波波高不小于满刻度的50%B当底波波高未达到满刻度,而缺陷一次回波波高与底波波高之比不小于50%C当底波波高小于满刻度的50%D缺陷一次回波波高小于满刻度的50%
判断题仪器测距标尺满刻度校准为150mm声程后,用折射角45°的斜探头探测100mm厚钢板,发现一缺陷回波前沿显示于刻度8上,则该缺陷离探测面的距离和它在探测面上投影点至探头入射的距离分别是85mm和85mm。A对B错