我们常见的光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大（）A、氦氖激光器B、半导体激光器

我们常见的光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大（）

  • A、氦氖激光器
  • B、半导体激光器

相关考题：

EPON的光功率下行波长为1490nm,必须用专门的EPON光功率测试仪进行测量,一般的光功率计不能测量。 A．错误B．正确
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光功率计和光源是进行光纤传输性能测量的一般设备。() A．错误B．正确
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光功率计测量下行光口断链告警的常见原因可能是() A.设备未安装B.设备之间的光纤光模块产生硬件故障C.下级设备复位并重新加载
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PON的光功率下行波长为1490nm,必须用专门的PON光功率测试仪进行测量,一般的光功率计不能测量。() 此题为判断题(对，错)。
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PON光功率计和普通光功率计的区别有( )。 A、PON光功率计可以在同一时间测量和显示三个波长，普通光功率计只能测量和显示一个波长B、PON光功率计能将同时在一根光纤中传输的是三个波长进行分离测量，普通光功率计无法分辨一个光纤中的三个波长C、PON光功率计可以不断业务在线测试D、PON光功率可以检车到1310nm的突发信号，普通光功率计不可
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测量荧光强度时，要在与人射光成直角的方向测量，这是因为A.只有在与入射光成直角的方向上才有荧光B.在成直角方向测量可以避免散射光的影响C.在成直角方向测量可避免透射光的影响D.荧光的强度比入射光强E.以上原因都不对
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关于光功率计描述正确的是() A. 通过测量发射端机或光网络的绝对功率,一台光功率计就能够评价光端设备的性能。B. 用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗的仪器。C. 在光纤系统中,测量光功率是最基本的。D. 可以测试光纤的长度。
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我们常见的半导体激光器光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大。
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光放大器根据其在系统中的不同位置可分为几种，包括（）A、光强度放大B、光功率放大C、光前置放大D、线路放大
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光功率计用于测量（）或通过一段光纤的光功率的相对损耗。A、绝对光功率B、相对光功率C、光纤衰减D、损耗分布
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在测试光缆的长度是，一般使用的是光功率计进行测量。
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光功率计和光源是进行光纤传输性能测量的一般设备。（）
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红外线气体分析仪产生回程的原因是（）。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强
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SDH设备光接口平均发送光功率测试：工程中在（）点测得的平均发送光功率应满足设计要求。
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下列OTDR可以测量的是（）。A、光纤距离B、光纤损耗C、光设备发光强度D、光纤断点位置
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光功率计，在一般测量状态在测量到的光功率单位为（），显示测量数据的绝对值
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基站传输设备（PDH）平均发送光功率利用光衰耗器测量，OMUX-300A平均发送光功率范围在（）dBm以内。A、-2--+2B、-3--+3C、-4--+4D、-5--+5
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U2000中查询设备的光功率在（）菜单-光功率管理
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光功率计测量下行光口断链告警的常见原因可能是（）。A、设备之间的光纤光模块产生硬件故障B、设备未安装C、下级设备复位并重新加载
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PON的光功率下行波长为（），必须用专门的EPON光功率测试仪进行测量，一般的光功率计不能测量。
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光功率计可用于光接口（）的测量。A、平均发送光功率B、接收机灵敏度C、误码率D、眼图
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EPON的光功率下行波长为1490nm，必须用专门的EPON光功率测试仪进行测量，一般的光功率计不能测量。
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用于光伏功率预测的辐射表测量范围一般为0至（）W/m2。
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判断题EPON的光功率下行波长为1490nm，必须用专门的EPON光功率测试仪进行测量，一般的光功率计不能测量。A对B错
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判断题光功率计和光源是进行光纤传输性能测量的一般设备。（）A对B错
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填空题用于光伏功率预测的辐射表测量范围一般为0至（）W/m2。
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判断题我们常见的半导体激光器光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大。A对B错
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单选题我们常见的光功率一般在3-5nm，因而常用于利用光强测量的设备中，体积象一个普通三极管那么大（）A氦氖激光器B半导体激光器
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