DL/T820-2002标准规定,遇有哪种情况时,应对仪器和探头系统进行复核()A、校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时B、开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时C、连续工作4小时以上,以及工作结束时D、以上都是

DL/T820-2002标准规定,遇有哪种情况时,应对仪器和探头系统进行复核()

  • A、校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时
  • B、开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时
  • C、连续工作4小时以上,以及工作结束时
  • D、以上都是

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超声波检测条件的主要考虑因素是()A.工作频率B.探头和仪器参数C.耦合条件与状态D.探测面E.材质衰减F以上都是

用旋转探头式涡流仪试验时,校准标准可用来().A、产生一个与缺陷深度相应的显示;B、检查仪器重复性是否发生漂移;C、检查探头线圈是否损坏;D、以上都是

使用仪器一斜探头系统,检测前应测定()A、前沿距离B、K值C、主声束偏离、灵敏度余量和分辨率等D、以上都是

钢筋保护层厚度检测仪器具有下列情况之一时,应进行校准()。A、新仪器启用前B、达到或超过校准时效期限C、仪器维修后D、对仪器测量结果怀疑时E、仪器比对试验出现异常时

在斜探头厚焊缝探伤时,为提高缺陷定位精度可采取措施是()A、提高探头声束指向性B、校准仪器扫描线性C、提高探头前沿长度和K值测定精度D、以上都对

超声波检测条件的主要考虑因素是()A、工作频率B、探头和仪器参数C、耦合条件与状态D、探测面E、材质衰减F、以上都是

JB/T4730.3-2005《承压设备无损检测》标准规定,下述()情况应对仪器和探头系统进行复核。A、 校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时B、 检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时C、 连续工作4h以上或工作结束时D、 以上都对

JB/T4730.3-2005标准规定:下列哪种情况下应对系统进行复核()A、校准后的探头粘合剂和仪器调节旋钮发生改变时B、检测人员怀疑扫描量程或扫描灵敏度有变化时C、连续工作四小时以上时D、工作结束时E、以上都是

影响仪器灵敏度的旋钮有()。A、发射强度和增益旋钮B、衰减器抑制旋钮C、深度补偿旋钮D、以上旋钮都影响仪器灵敏度

直探头接触法探伤时,()要涂布耦合剂。A、探头与工件表面之间B、工件底面与空气之间C、仪器与探头之间D、以上都不对

仪器和探头测距校准包括()。A、校准零点B、校准比例C、以上两种情况都包括D、校准灵敏度

灵敏度余量是()。A、表示仪器的单独性能B、探头的单独性能C、表示探头和仪器的综合性能D、以上均不是

灵敏度余量是探头和仪器的综合性能,是指整个探伤系统(仪器和探头)发现最小缺陷的能力。

调节衰减器旋钮可以改变仪器的()。A、 探头阻尼B、 灵敏度C、 频率范围D、 电压

探伤设备(仪器和探头)的最大检测能力称为灵敏度余量。

下述哪种情况应对已检验过的工件进行复验()A、怀疑信号并不是由缺陷引起的B、在定期的检测条件和核校中发现异常C、发现原调整好的仪器旋钮已经有变动D、以上三种情况均应复验

仪器零点漂移()满量程时,应检查和调节仪器;跨度漂移()满量程时,数据无效,应对仪器进行维修和校准。

单选题使用仪器一斜探头系统,检测前应测定()A前沿距离BK值C主声束偏离、灵敏度余量和分辨率等D以上都是

单选题JB/T4730.3-2005《承压设备无损检测》标准规定,下述()情况应对仪器和探头系统进行复核。A 校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时B 检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时C 连续工作4h以上或工作结束时D 以上都对

单选题超声波检测条件的主要考虑因素是()A工作频率B探头和仪器参数C耦合条件与状态D探测面E材质衰减F以上都是

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单选题DL/T820-2002标准规定,遇有哪种情况时,应对仪器和探头系统进行复核()A校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时B开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时C连续工作4小时以上,以及工作结束时D以上都是

填空题仪器零点漂移()满量程时,应检查和调节仪器;跨度漂移()满量程时,数据无效,应对仪器进行维修和校准。

单选题用旋转探头式涡流仪试验时,校准标准可用来().A产生一个与缺陷深度相应的显示;B检查仪器重复性是否发生漂移;C检查探头线圈是否损坏;D以上都是

单选题影响仪器灵敏度的旋钮有()。A发射强度和增益旋钮B衰减器抑制旋钮C深度补偿旋钮D以上旋钮都影响仪器灵敏度

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单选题调节衰减器旋钮可以改变仪器的()。A探头阻尼B灵敏度C频率范围D电压