显像时发现清洗不足,可以重新清洗显像。

显像时发现清洗不足,可以重新清洗显像。


相关考题:

显像后如发现工件表面本底污染严重无法判别时,应该()A、重新显像B、重新渗透C、重新清洗后再次显像D、重复渗透探伤全过程

显像后,发现本地水平过高,应重新清洗,然后再次显像。

在下面关于干燥操作的叙述中指出正确的句子()A、用湿式显像法时,干燥是在显像前进行的B、在溶剂去除型渗透探伤中进行溶剂清洗时,不需要干燥C、在溶剂去除型渗透探伤中进行溶剂清洗之后,必须充分地干燥

用浸入法施加渗透剂时,滴落时间过长会造成渗透剂难于清洗,这时应()A、将零件激冷到0℃以下B、将零件加热到60℃以上C、将零件重新浸入渗透液中D、在清洗前施加湿式显像剂

因操作不当,显像后发现被检工件表面本底水平太高而无法判伤时,应()A、擦去原显像层重新进行显像B、立即再置于渗透剂中进行重新渗透C、采用干式显像,重新显示D、从预清洗开始重复渗透探伤全过程

去除操作过程中,如出现清洗不足现象,可重新清洗。

显像后,发现本底水平过高时,应重新清洗,然后再次显像。

采用快干式显像剂应如何进行后清洗?

下列哪种情况可能引起伪缺陷迹痕?()A、过分的清洗B、显像剂施加不足C、在渗透时渗透剂或工件太冷D、棉绒或污垢

用浸涂法施加渗透液时,如果滴落时间太长,试件表面上的渗透液将难于清洗掉。可以()恢复正常的清洗性能。A、将试件激冷到B、将试件加热到C、将试件重新浸入渗透液中D、清洗试件前施加湿显像剂

在下面诸渗透探伤步骤中指出正确的步骤,使用水洗型荧光渗透液、湿式显像剂()A、预处理-显像-渗透-清洗-干燥-观察B、预处理-渗透-清洗-干燥-显像-观察C、预处理-渗透-显像-清洗-干燥-观察D、预处理-渗透-清洗-显像-干燥-观察

荧光渗透剂清洗不足会造成()A、零件表面腐蚀B、施加显像剂困难C、渗出过多D、荧光背景过亮

下列()情况可能引起伪缺陷迹痕。A、 过分的清洗B、 显像剂施加不足C、 在渗透时渗透剂或工件太冷D、 棉绒或污垢

渗透检测的基本步骤分为预清洗、渗透、清洗、显像、观察和后清洗。

干粉显像时,零件清洗后要进行()。

单选题如果发现显像剂喷得太厚时应如何处理?()A用干净不会产生纤维毛的布沾少许清洗剂将太厚的显像剂擦去,等5至10分钟以内再重新喷一层显像剂B直接用干净不会产生纤维毛的布将太厚的显像剂擦去,等5至10分钟以内再重新喷一层显像剂C重新进行渗透探伤全过程D显像剂可喷得再厚些,提供更明显的背景对比,不必再处理

单选题因操作不当,显像后发现被检工件表面本底水平太高而无法判伤时,应()A擦去原显像层重新进行显像B立即再置于渗透剂中进行重新渗透C采用干式显像,重新显示D从预清洗开始重复渗透探伤全过程

单选题显像后如发现工件表面本底污染严重无法判别时,应该()A重新显像B重新渗透C重新清洗后再次显像D重复渗透探伤全过程

单选题在下面诸渗透探伤步骤中指出正确的步骤,使用水洗型荧光渗透液、湿式显像剂()A预处理-显像-渗透-清洗-干燥-观察B预处理-渗透-清洗-干燥-显像-观察C预处理-渗透-显像-清洗-干燥-观察D预处理-渗透-清洗-显像-干燥-观察

单选题着色探伤的步骤是()A清洗、渗透、清洗、显像B渗透、清洗、显像C清洗、渗透、显像D都不对

单选题用浸涂法施加渗透液时,如果滴落时间太长,试件表面上的渗透液将难于清洗掉。可以()恢复正常的清洗性能。A将试件激冷到B将试件加热到C将试件重新浸入渗透液中D清洗试件前施加湿显像剂

单选题荧光渗透剂清洗不足会造成()A零件表面腐蚀B施加显像剂困难C渗出过多D荧光背景过亮

问答题采用快干式显像剂应如何进行后清洗?

判断题显像后,发现本底水平过高时,应重新清洗,然后再次显像。A对B错

单选题下列哪种情况可能引起伪缺陷迹痕?()A过分的清洗B显像剂施加不足C在渗透时渗透剂或工件太冷D棉绒或污垢

判断题渗透检测的基本步骤分为预清洗、渗透、清洗、显像、观察和后清洗。A对B错

判断题去除操作过程中,如出现清洗不足现象,可重新清洗。A对B错