属于系统误差的是()。A、硅码腐蚀;B、天平零点改变;C、气流波动;D、温度变化。

属于系统误差的是()。

  • A、硅码腐蚀;
  • B、天平零点改变;
  • C、气流波动;
  • D、温度变化。

相关考题:

指出下列各种误差中属于系统误差的是()A、滴定时不慎从锥形瓶中溅出一滴溶液B、使用天平时,天平零点稍有变动C、砝码受腐蚀D、滴定时,不同的人对指示剂顏色判断稍有不同

下面属于系统误差的是 ( ) A.砝码受蚀B.天平两臂不等长C.称量中样品受潮D.观察者对终点不敏感E.温度变化对测定有较大影响

用电光天平称物,天平的零点为“O”,当砝码和环码加到11.3500g时,天平停点为+4.5mg,此物重()。A.11.3545gB.11.35548gC.11.3542gD.11.354g

下列不属于系统误差的是A.砝码受蚀B.天平两臂不等长C.称量中样品受潮D.观察者对终点不敏感E.温度变化对测定有较大影响

属于系统误差的有()A、温度变化造成的误差B、操作者判断滴定终点颜色偏深造成的误差C、天平砝码不准确引入的误差D、滴定管刻度不准造成的误差E、试剂不纯带来的误差

引起运算放大器零点漂移的主要原因是()。 A、电源波动B、温度变化C、器件性能D、信号稳定度

使用天平前,应首先检查()。A、水平B、零点C、砖码D、其他

下列情况引起的误差是系统误差的是()A、砝码被腐蚀B、试剂里含有微量的被测组分C、重量法测定SiO2含量是,试液中硅酸沉淀不完全D、天平的零点突然有变动

()是直流放大电路产生零点漂移的主要原因。A、元件老化B、电源电压的波动C、温度的变化D、参数的变化

天平砝码腐蚀引起()。A、系统误差B、偶然误差C、过失误差

()不属于影响“零点、停点变动性大”的原因。A、天平放置不水平B、侧门未关C、天平的某部件螺丝发生松动D、称量物温度与室温一致

称量时,天平零点有变动,所引起的误差属()。A、系统误差B、相对误差C、随机误差D、绝对误差

下列情况中,()引起的误差不是系统误差。A、天平砝码未作校正B、称量试样时吸收了空气中的水份C、天平零点稍变动D、标定HCl用的NaOH标准溶液中吸收了CO2

强酸滴定强碱,由于()造成终点系统误差。A、滴定管读数不准B、天平零点变化C、使用容量瓶时定容不准D、指示剂变色点为pH=5.1

下列情况引起的误差属于系统误差的是()A、天平本身有一定的变动性B、所用砝码的标示值与真实质量不一致C、天平箱内温度、湿度的微小变化D、称量时把砝码数值看错了

因天平零点不准产生的误差是()A、系统误差B、偶然误差C、相对误差D、绝对误差

天平的零点漂移是属于()要解释。A、偶然误差B、系统误差C、两者都是D、两者都不是

差动放大电路不仅能有效地放大交流信号,而且能有效地减小由于电源波动和晶体管随温度变化多引起的(),因而获得广泛的应用。A、噪声B、零点漂移C、信号失真D、码间串扰

直流放大器中,产生零点飘移的原因是()。A、频率B、电源电压波动C、晶体管老化D、温度的变化

分析天平的零点稍有变动,所引起的误差属于()A、仪器误差B、随机误差C、方法误差D、系统误差

下列情况对测定结果带来的误差,属于系统误差的是()A、使用的器皿不洁净B、试剂中含有微量的待测组分C、天平内温度的波动D、滴定管漏水

多选题下列清况引起的误差,属于系统误差的有()A法码腐蚀B称量时试样吸收了空气中的水分C天平零点稍有变动D读取滴定管读数时,最后一位数字估侧测不准E以含量约98%的金属锌作为基准物质标定EDTA的浓度

单选题分析天平的零点稍有变动,所引起的误差属于()A仪器误差B随机误差C方法误差D系统误差

单选题属于系统误差的是()。A硅码腐蚀;B天平零点改变;C气流波动;D温度变化。

单选题使用天平前,应首先检查()。A水平B零点C砖码D其他

单选题对于天平室内温度过低,能引起天平()。A停点的变点B称量读数不稳定C天平变动性增大D零点的漂移

单选题因天平零点不准产生的误差是()A系统误差B偶然误差C相对误差D绝对误差