测量高频信号的频率不宜采用直接测频法。
测量高频信号的频率不宜采用直接测频法。
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当信号的频率很高时，测量相位是比较困难的，为了避免这个问题，在光速测量实验中采用了（）的方法，将100MHz的（）和（）分别与本机振荡器产生的（）混频，得到两个低频信号进行比相。 a.高频基准信号 b.高频振荡信号 c.高频被测信号 d.差频检相A、d；a；c；bB、d；b；c；aC、d；a；b；cD、d；c；b；a
测周与测频的实现电路最主要的区别是（）。A、测频的门控信号来自时基信号，而测周的门控信号来自测量信号B、测频的门控信号来自测量信号，而测周的门控信号来自时基信号C、测频、测周的门控信号均来自测量信号D、测频、测周的门控信号均来自时基信号
测一个f=200Hz的信号频率，采用测频法（T=1S）和测周法（Ts=0.1μS），由量化误差引起的测量误差的绝对值分别为（）。A、0.005%，0.002%B、0.005%，0.2%C、0.5%，0.2%D、0.5%，0.002%
单选题测周与测频的实现电路最主要的区别是（）。A测频的门控信号来自时基信号，而测周的门控信号来自测量信号B测频的门控信号来自测量信号，而测周的门控信号来自时基信号C测频、测周的门控信号均来自测量信号D测频、测周的门控信号均来自时基信号
单选题测一个f=200Hz的信号频率，采用测频法（T=1S）和测周法（Ts=0.1μS），由量化误差引起的测量误差的绝对值分别为（）。A0.005%，0.002%B0.005%，0.2%C0.5%，0.2%D0.5%，0.002%