关于薄膜比拟,下列错误的是()。 A: 通过薄膜比拟试验, 可求解扭转问题。B: 通过薄膜比拟, 直接求解薄壁杆件的扭转问题。C: 通过薄膜比拟, 提出扭转应力函数的假设。D: 薄膜可承受弯矩，扭矩，剪力和压力。
关于薄膜比拟,下列错误的是()。
A: 通过薄膜比拟试验, 可求解扭转问题。
B: 通过薄膜比拟, 直接求解薄壁杆件的扭转问题。
C: 通过薄膜比拟, 提出扭转应力函数的假设。
D: 薄膜可承受弯矩，扭矩，剪力和压力。
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下列关于直接数字X线摄影探测器的基本结构的说法,错误的是A.探测器采用薄膜晶体管阵列结构SXB 下列关于直接数字X线摄影探测器的基本结构的说法，错误的是A.探测器采用薄膜晶体管阵列结构B.像素被安排为二维矩阵C.按行设门控线D.按列设图像电荷输出线E.沉积在薄膜晶体管下的是厚硒膜、介质层、表面电极
关于比拟定理的前提条件，下列说法错误的是：A．静电场中的导体必须是良导体；B．恒定电场中的导体必须是良导体；C．恒定电场是弱导电媒质中的恒定电场；D．恒定电场是电源外部的恒定电场。