电子元器件的寿命试验属于( )。A．全数检验B．破坏性试验C．最终检验D．流动检验
电子元器件的寿命试验属于( )。
A．全数检验
B．破坏性试验
C．最终检验
D．流动检验
相关考题：
下列关于全数检验和抽样检验的说法中，正确的有（ ）。A.破坏性检验，不能采取全数检验方式B.进行全数检验，可以绝对保证100%的合格品C.破坏性试验，不能采用抽样检验的方式D.全数检验有时需要花很大成本E.抽样检验具有节省人力、物力、财力、时间和准确性高的优点
下列关于全数检验和抽样检验的说法中，正确的有（ ）。A.破坏性检验，不能采取全数检验方式B.进行全数检验，可以绝对保证100％的合格品。C.破坏性试验，不能采用抽样检验的方式D.全数检验有时需要花很大成本E.抽样检验具有节省人力、物力、财力、时间和准确性高的优点
2、抽样检验一般不用于的情况有（）。A．测量对象是散装或流程性材料，如矿石、水泥B．其他不适合使用全数检验或全数检验不经济的场合C．破坏性实验，如产品的寿命试验等可靠性试验D．批量较小，如螺钉