下列SPECT空间线性测试步骤错误的一项A、探头去准直器，加铅栅模型，点源置于5倍探头视野的距离外，与中轴对齐B、铅栅平行X方向，设置20%中心能量窗，128矩阵，1000k以上计数，采集图像C、转动铅栅模型使之平行于Y方向，重复图像采集；去掉点源、铅栅模型，换上准直器D、直观铅栅图像，并与参考图像相比照，粗略判断线条有无畸形E、计算XY方向每一个铅槽图像的线扩展函数峰值的位置，并计算出绝对线性和微分线性
下列SPECT空间线性测试步骤错误的一项
A、探头去准直器，加铅栅模型，点源置于5倍探头视野的距离外，与中轴对齐
B、铅栅平行X方向，设置20%中心能量窗，128矩阵，1000k以上计数，采集图像
C、转动铅栅模型使之平行于Y方向，重复图像采集；去掉点源、铅栅模型，换上准直器
D、直观铅栅图像，并与参考图像相比照，粗略判断线条有无畸形
E、计算XY方向每一个铅槽图像的线扩展函数峰值的位置，并计算出绝对线性和微分线性
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按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定:钢板超声波检测对缺陷边界范围或指示长度测量方法,以下叙述正确的是:() A.用双晶直探头测量时，探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时，以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点D.底面第一次底波B1
超声探头须具有一定的技术特性，下列哪一项是错误的A、宽频加变频探头只有数字化技术才能实现B、变频探头的变化范围可达多挡C、变频探头的频率精度并不优于中心频率的探头D、变频能在凸阵／线阵探头上实现E、超宽频及变频探头可彻底解决超声成像中的所有问题
下列关于SPECT平面显像常规维护与预防性质量控制措施，错误的一项是A、能峰设定使用放射性点源或泛源均可，探头加准直器或不加准直器都行B、每日均匀性测定，去准直器加盖保护罩，置放点源，矩阵128×128，总计数1000KC、数据库管理包括患者数据清理与数据库重设D、环境要求主要强调以下四点：温度、湿度、无尘和无阳光直射E、仪器外部要保持清洁，内部线路除尘要由维护工程师来定期进行
下列有关系统平面灵敏度的描述，错误的是A、描述探头对源的响应能力B、指某一探头对特定点源的灵敏度C、用单位活度在单位时间内的计数表示D、系统平面灵敏度也称灵敏度E、与准直器的类型、窗宽、源的种类及形状有关
SPECT均匀性校正操作过程错误的一项是A、点源活度0.3～0.5mCi，体积≤1ml，计数率≥30k/sB、将探头准直器去掉，按厂家要求给探头加铅框和有机玻璃罩C、置放点源于5倍探头视野的距离之外，对准视野中心D、20%中心能窗，64矩阵，计数1000k以上E、收起点源，换上准直器，用软件求出视野内的最大计数与最小计数
下列有关探头屏蔽性能的描述，错误的是A、描述探头对视野之外的源的屏蔽能力B、对患者本身FOV之外放射性的屏蔽：用与探头平面的垂直距离为20cm点源，在距探头FOV边缘前后10cm、20cm、30cm的最大屏蔽计数与在 FOV中心处计数率的百分比表示C、对周围环境放射性的屏蔽：将点源置于距探头中心1m，距探头两侧及前后2m处。用探头分别朝上、下、左、右时的计数率与FOV中心处计数率的百分比表示对周围环境放射性的屏蔽性能D、屏蔽泄漏一最大屏蔽计数率/FOV中心计数率×100%E、探头屏蔽性能反映了患者本身FOV 之外放射性和周围环境放射性这两种影响的程度
下列SPECT分辨率测试步骤（半高宽型）错误的一项A、探头去准直器，平行于X方向将模型置于视野中间，设置20%居中能窗，128矩阵，1000k以上计数，采集图像B、平行于Y方向置放模型，重复采集；去掉线源模型，精确测量模型上两线源之间的距离C、垂直于线源图像勾画3个像素宽的剖面线，求出剖面线上每一个像素的计数值，并将每个像素的计数值绘制在坐标纸上组成正态分布曲线D、测量坐标纸上两个波峰之间像素数，测量其中一正态分布曲线1/2峰高处的像素数E、用模型上两线源之间的精确距离除以图像上两峰值之间的像素数，得出像素尺寸，然后用正态分布曲线1/2峰高处宽度的像素数乘以像素尺寸即得到FWHM
下列SPECT分辨率测试步骤（铅栅型）错误的一项A、探头去准直器，加铅栅模型，对正X、Y 方向B、置放点源于5倍探头视野的距离之外，与中轴对齐C、设置20%中心能量窗，128矩阵，1000k 以上计数，采集图像D、依次90°转动模型，重复采集图像，直至4个方位完成，去掉点源铅栅，换上准直器E、所能看见的最小线条即为铅栅分辨率， FWHM=0.5×最小铅栅间隔