射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从()黑度分布和位置进行综合分析。A、缺陷影像的几何形状B、缺陷影像的厚度C、缺陷影像的大小D、缺陷影像的长度

射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从()黑度分布和位置进行综合分析。

  • A、缺陷影像的几何形状
  • B、缺陷影像的厚度
  • C、缺陷影像的大小
  • D、缺陷影像的长度

相关考题:

射线检测时,使用透度计的主要目的是___。A.测量缺陷大小B.测量底片黑度C.测量几何不清晰度D.衡量透照底片的影像质量

射线照相检测中,缺陷的取向与射线方向()时,可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A、影像重叠B、影像畸变C、影像放大D、以上都有可能

从底片上测得缺陷的黑度为3.0,无缺陷处的黑度为2.0,已知散射比n=2,μ=3cm-1,黑度在1.2∽3.0范围内胶片特性曲线的r=3.5,若忽略缺陷对射线的吸收,求缺陷沿射线方向的尺寸(保留小数点后两位)

曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定()A、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件

缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。

射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从缺陷影像的几何形状、()和位置进行综合分析。A、长度B、厚度C、大小D、黑度分布

从可检出最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是

底片识别界限对比度ΔDmin随黑度的提高而增大,不易识别小缺陷。但为什么在一定黑度范围内。随者黑度的提高,底片的照相灵敏度提高了?

颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。

在射线底片上,使缺陷影像发生畸变最重要的原因是()A、射源尺寸B、射源到缺陷的距离C、缺陷到胶片的距离D、缺陷相对于射源和胶片的位置和方向

从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是

射线照片上缺陷影像的定性判断主要依据该影像的()A、形状B、黑度C、位置D、以上都是

射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量

实时射线检测法(RealTimeRT)即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像,其气孔处的影像为()A、与底片成像相同,黑度较大B、与底片成像相同,黑度较小C、与底片成像不同,黑度较大D、与底片成像不同,黑度较小

有关对比度的以下说法错误的是()A、底片上某一小区域和相邻区域的黑度差称为底片对比度,又叫作底片反差B、底片对比度越大,影像就越容易被观察和识别C、硬射线所得的底片比软射线的底片对比度高D、对比度又可分为主因对比度和胶片对比度

()对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。

X射线照相灵敏度取决于()。A、底片上缺陷影响的不清晰度B、底片黑度C、曝光时间D、以上都对

单选题工件射线透照时,靠近射线源侧的缺陷,在底片上所呈的影像可能会产生()A影像重叠B影像畸变C影像放大D以上都有可能

单选题从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A底片成象颗粒度B底片上缺陷图像不清晰度C底片上缺陷图像对比度D以上都是

单选题有关对比度的以下说法错误的是()A底片上某一小区域和相邻区域的黑度差称为底片对比度,又叫作底片反差B底片对比度越大,影像就越容易被观察和识别C硬射线所得的底片比软射线的底片对比度高D对比度又可分为主因对比度和胶片对比度

单选题射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A测量缺陷大小B测量底片黑度C测量几何不清晰度D衡量透照底片的影像质量

单选题射线照片上缺陷影像的定性判断主要依据该影像的()A形状B黑度C位置D以上都是

单选题实时射线检测法(RealTimeRT)即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像,其气孔处的影像为()A与底片成像相同,黑度较大B与底片成像相同,黑度较小C与底片成像不同,黑度较大D与底片成像不同,黑度较小

判断题颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。A对B错

单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A胶片粒度B底片上缺陷影像的不清晰度C底片上缺陷影像的对比度D以上都是

问答题从底片上测得缺陷的黑度为3.0,无缺陷处的黑度为2.0,已知散射比n=2,μ=3cm-1,黑度在1.2∽3.0范围内胶片特性曲线的r=3.5,若忽略缺陷对射线的吸收,求缺陷沿射线方向的尺寸(保留小数点后两位)