用万用表测试,好的单向可控硅阳极与阴极间()。 A、正向电阻小、反向电阻大B、正向与反向电阻都很小C、正向与反向电阻都很大D、正向电阻大、反向电阻小
用万用表测试好的单向可控硅,阴极与控制极间()。 A、正向电阻小、反向电阻小B、正向、反向电阻都很大C、正向、反向电阻都很小D、正向电阻大、反向电阻小
用万用表测量单向可控硅阳极与阴极间的正、反向电阻都很小时,说明管子已坏。() 此题为判断题(对，错)。
用万用表测量单向可控硅阴极与控制极间的电阻,应选用100Ω挡。() 此题为判断题(对，错)。
用万用表测量单向可控硅阳极与控制极间的正、反向电阻都很小时,说明管子是好的。() 此题为判断题(对，错)。
用万用表分别测量b、e极间和b、c极间PN结的正、反向电阻,如果测得正、反向电阻相差较大,这说明三极管()。 A、良好B、已经断路C、已击穿D、以上答案都不对说明了
用万用表测量可能控硅的阳极与阴极间的正反向电阻和控制极与阴极间的正反向电阻,如指针不动,则说明可控硅是好的。() 此题为判断题(对，错)。
当用万用表的欧姆档测量二极管的正、反向电阻时，若正、反向电阻都很小，说明二极管极间断路。A对B错
用指针式万用表测量晶闸管的阳极-阴极、阳极-门极、阴极-门极之间正、反向电阻时，应使用万用表的（）Ω档。A、R×1；B、R×10和R×1k；C、R×100或R×1k；D、R×10k。
继电器测线圈电阻：可用万用表（）Ω档测量继电器线圈的阻值，从而判断该线圈是否存在着开路现象。
用万用表测量可能控硅的阳极与阴极间的正反向电阻和控制极与阴极间的正反向电阻，如指针不动，则说明可控硅是好的。
用万用表测量半导体元件的正、反向电阻时，应用（）档，不能用高阻档，以免损坏半导体元件。
用指针式万用表R³100Ω档测量二极管的正、反向电阻，（）时可判断二极管是好的。A、正向电阻几欧，反向电阻几兆欧B、正向电阻几十欧，反向电阻几千欧C、正向电阻几十欧，反向电阻几十千欧D、正向电阻几十欧，反向电阻几百千欧
当没有兆欧表时，可以用万用表的R10K档测量电气设备的绝缘电阻。
用万用表Rx1kΩ测量GTO阳极与阴极间电阻时，若其正、反向电阻都很小，说明两极之间（）。A、开路B、短路C、接线错误D、测量方法错误
可用万用表分别测量三极管b、e极间和b、c极间PN结的正、反向电阻；如果测得正、反向电阻都很大，说明管子内部（）。A、短路B、断路C、正常D、击穿
用万用表分别测量b、e极间和b、c极间PN结的正、反向电阻，如果测得正、反向电阻相差较大，这说明三极管（）。A、良好B、已经断路C、已击穿D、以上答案都不对
用万用表测量二极管的正、反向电阻，阻值均为零，表明此二极管（）。A、良好B、可用C、击穿D、断路
用指针式万用表测量单向晶闸管阳极—阴极之间和阳极—门极之间的正反向电阻均合格，再用R×10Ω档测量门极与阴极之间正反向电阻，如反向电阻略大于正向电阻，说明管子完好
用万用表R×100Ω档测量一只晶体管各极之间正、反向电阻，如果都呈现很小的阻值，则这只晶体管（）。A、PN结被击穿B、PN结开路C、只有发射极击穿D、只有集电极击穿
当用万用表的欧姆档测量二极管的正、反向电阻时，若正、反向电阻都很大，说明二极管极间短路。
用万用表R³100Ω档测量二极管的正、反向电阻，（）时可判断二极管是好的。A、正向电阻几欧，反向电阻几兆欧B、正向电阻几十欧，反向电阻几千欧C、正向电阻几十欧，反向电阻几十千欧D、正向电阻几十欧，反向电阻几百千欧
填空题在测量阴极与门电阻时，注意不可使用万用表（）档。
填空题用万用表测量半导体元件的正、反向电阻时，应用（）档，不能用高阻档，以免损坏半导体元件。
判断题判断可控硅是否击穿，可用万用表R10K档测量阳阴极的正反向电阻，阻值应很小，否则说明击穿。A对B错
单选题用万用表测试好的单向可控硅，阳极与阴极间（）。A正向电阻小，反向电阻大B正向和反向电阻都很小C正向与反向电阻都很大D正向电阻大，反向电阻小