下面关于分波板D40指标测试的描述，正确的是（）A、相邻通道隔离度要求越小越好，非相邻通道隔离度要求越小越好B、各通道插损的最大差异要求越小越好C、分波器的中心波长测试中，测试值只能选－3dB谱宽的中心波长，否则测试无法通过D、可以采用对应波长的OTU输出的信号做为分波板输入光源进行测试
下面关于分波板D40指标测试的描述，正确的是（）
- A、相邻通道隔离度要求越小越好，非相邻通道隔离度要求越小越好
- B、各通道插损的最大差异要求越小越好
- C、分波器的中心波长测试中，测试值只能选－3dB谱宽的中心波长，否则测试无法通过
- D、可以采用对应波长的OTU输出的信号做为分波板输入光源进行测试
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下面关于信噪比的描述,错误的是() A.波分系统中大量使用EDFA是造成信噪比劣化的最重要原因;B.信号经过多级WLA级联后比经过多级WBA级联后的信噪比劣化严重一些;C.用光谱分析仪在D40单板下波后测试的信噪比会比在IN口测试的信噪比的值要大一点;D.提高信噪比的方法是提高光功率，因此光功率高信噪比就一定高
OTN网络中有关插损的说法正确的是( ) A.插损是分波器或合波器的单个物理通道指标B.每通道插损即每通道光信号经过光复用器件相应通道后输出光功率的损耗C.在一般的插损测试中，分波器的所有通道的插损值应该完全相等，所以只需对其中某一个通道测试即可D.对于分波器的插损测试，可以利用仪表发光，然后输入分波器的输入端口并测试输入光功率，再逐个测试分波器的输出端口的光功率，所对应的光功率差值即为个通道插损
以下关于板波性质的叙述，哪条是错误的（）A、按振动方向分，板波可分为SH波和兰姆波，探伤常用的是兰姆波B、板波声速不仅与介质特性有关，而且与板厚、频率有关C、板波声速包括相速度和群速度两个参数D、实际探伤应用时，只考虑相速度，无须考虑群速度
下面关于波振面像差说法正确的是（）。A、波振面像差是反映视网膜表面不规则的一个基本指标B、波振面像差反映人眼成像于视网膜上一个规则点C、波振面像差是验配等像眼镜必需检查的指标之一D、波振面像差可通过光程差来求得
下面关于黑盒测试的描述中，不正确的是（）。A、黑盒测试也称为功能测试。B、着眼于程序的外部特征，而不考虑程序的内部逻辑结构。C、黑盒测试是在程序接口处进行测试。D、黑盒测试是根据程序的内部结构进行测试，因此才能发现程序里的隐患。
有关插损的说法正确的是（）。A、每通道插损即每通道光信号经过光复用器件相应通道后输出光功率的损耗；B、插损不是分波器或合波器的单个物理通道指标；C、在一般的插损测试中，分波器的所有通道的插损值应该完全相等，所以只需对其中某一个通道测试即可；D、对于分波器的插损测试，可以利用仪表发光，然后输入分波器的输入端口并测试输入光功率，再逐个测试分波器的输出端口的光功率，所对应的光功率差值即为个通道插损。
有关插损的说法正确的是（）。A、每通道插损即每通道光信号经过光复用器件相应通道后输出光功率的损耗B、插损是分波器或合波器的单个物理通道指标C、在一般的插损测试中，分波器的所有通道的插损值应该完全相等，所以只需对其中某一个通道测试即可D、对于分波器的插损测试，可以利用仪表发光，然后输入分波器的输入端口并测试输入光功率，再逐个测试分波器的输出端口的光功率，所对应的光功率差值即为个通道插损
单选题下面关于波振面像差说法正确的是（）。A波振面像差是反映视网膜表面不规则的一个基本指标B波振面像差反映人眼成像于视网膜上一个规则点C波振面像差是验配等像眼镜必需检查的指标之一D波振面像差可通过光程差来求得
单选题以下关于板波性质的叙述，哪条是错误的（）A按振动方向分，板波可分为SH波和兰姆波，探伤常用的是兰姆波B板波声速不仅与介质特性有关，而且与板厚、频率有关C板波声速包括相速度和群速度两个参数D实际探伤应用时，只考虑相速度，无须考虑群速度
单选题下面关于黑盒测试的描述中，不正确的是（）。A黑盒测试也称为功能测试B着眼于程序的外部特征，而不考虑程序的内部逻辑结构C黑盒测试是在程序接口处进行测试D黑盒测试是根据程序的内部结构进行测试，因此才能发现程序里的隐患
多选题关于预测效度，正确的描述是（ ）A多用于知识测试B不适用于能力测试C是考察选拔方法是否有效的常用指标D是说明测试用来预测将来行为的有效性E是测试方法能真正测出想测的内容的程度