对()引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。A、电场B、磁场C、剩磁D、漏磁

对()引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。

  • A、电场
  • B、磁场
  • C、剩磁
  • D、漏磁

相关考题:

表面温度判断法主要适用于电流致热型引起发热的设备。( )

对于磁场和漏磁引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。( )

依据红外热像检测细则管理规定,进行电力设备红外测温缺陷判别时,表面温度判断法主要适用于( )的设备。 电流致热型 $;$电磁效应引起发热 $;$电压致热型 $;$ 综合致热型

依据红外热像检测细则规定,电力设备红外检测,判断为危急缺陷时,对电流致热型设备,应采取必要的措施,必要时降低负荷电流

红外热像检测过热危机缺陷中对(____)致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流。环境$; $功率$; $电流$; $电压

红外热像检测中,对于危急缺陷的相关描述,正确的是()。指设备最高温度超过GB/T11022规定的最高允许温度的缺陷$;$这类缺陷应立即安排处理$;$对电流致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流$;$对电压致热型设备,当缺陷明显时,应立即消缺或退出运行,如有必要,可安排其他试验手段,进一步确定缺陷性质

红外热像检测表面温度判断法:主要适用于()引起发热的设备。(A)电流致热型 (B)电压致热型 (C)电感效应 (D)电磁效应

红外测温相对温差判断法,主要适用于电流致热型设备。特别是对小负荷电流致热型设备,采用相对温差判断法可降低小负荷缺陷的漏判率。对电流致热型设备,发热点温升值小于15K时,不宜采用相对温差判断法。

红外热像检测中,图像特征判断法主要适用于()电流致热型的设备$;$电磁效应引起发热的设备$;$综合致热型设备$;$电压致热型设备

红外检测表面温度判断法主要适用于电流致热型和电压效应引起发热的设备。

红外热像检测表面温度判断法:主要适用于( )引起发热的设备。电流致热型$;$电压致热型$;$电感效应$;$电磁效应

红外热像检测温度相对温差判断法主要适用于( )设备。电流致热型$;$电压致热型$;$电磁致热型$;$电容致热型

《红外热像检测细则》中规定,当缺陷是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于()引起的过热可依据电流致热型设备的判据进行处理。(A)磁场 (B)剩磁 (C)漏磁 (D)偏磁

对于磁场和漏磁引起的过热可根据( )设备的判据进行处理。电流致热型 $;$电磁效应 $;$电压致热型 $;$综合致热型

红外热成像检测发现缺陷时,若是由两种或两种以上因素引起的,应综合判断缺陷性质。对于磁场和漏磁引起的过热可依据电压致热型设备的判据进行处理。

《红外热像检测细则》中规定,以下电压致热型温差判据为2-3K的设备有()(A)油浸式耦合电容器 (B)高压套管 (C)油浸式电流互感器 (D)电缆终端

对(____)致热型设备,应立即降低负荷电流或立即消缺。环境$; $功率$; $电流$; $电压

红外热像检测中,图像特征判断法主要适用于( )(A)电流致热型的设备 (B)电磁效应引起发热的设备 (C)综合致热型设备 (D)电压致热型设备

红外热像检测温度相对温差判断法主要适用于( )设备。(A)电流致热型 (B)电压致热型 (C)电磁致热型 (D)电容致热型

红外测温对于磁场和漏磁引起的过热可依据()致热型设备的判据进行处理。电流$;$电压$;$功率$;$涡流

依据红外热像检测细则管理规定,进行电力设备红外测温缺陷判别时,表面温度判断法主要适用于()的设备。(A)电流致热型 (B)电磁效应引起发热 (C)电压致热型 (D)综合致热型

红外热像检测判断方法中,()主要适用于电流致热型设备。特别是对小负荷电流致热型设备,采用该法可降低小负荷缺陷的漏判率。对电流致热型设备,发热点温升值小于15K时,不宜采用该法。A、表面温度判断法B、同类比较判断法C、图像特征判断法D、相对温差判断法

红外热像检测表面温度判断法主要适用于()引起发热的设备。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型

对于磁场和漏磁引起的过热可根据()设备的判据进行处理。A、电流致热型B、电磁效应C、电压致热型D、综合致热型

红外热像检测中,对于严重缺陷的相关描述,正确的是()。A、指设备存在过热,程度较重,温度场分布梯度较大,温差较大的缺陷B、这类缺陷应立即安排处理C、对电流致热型设备,应采取必要的措施,如加强检测等,必要时降低负荷电流D、电压致热型设备的缺陷一般定为严重及以上的缺陷

电流致热型设备反映设备的外部缺陷,电压致热型设备反映设备的内部缺陷。

使用红外检测电流致热型的设备,要在低于30%的额定负荷下进行。()