15/50A型试片,分子表示()分母表示()。

15/50A型试片,分子表示()分母表示()。


相关考题:

附加轴线的编号用分数表示,分母表示附加轴线的编号,分子表示前一轴线的编号。()

地形图的比例尺用分子为1的分数表示,则()。 A、分母大,比例尺大,表示地形详细B、分母小,比例尺大,表示地形概略C、分母大,比例尺小,表示地形详细D、分母小,比例尺大,表示地形详细

有两套起升机构的起重机、主、副钩的起重量用分数表示,表示方法是( )。A.分母表示主钩起重量B.分子表示副钩起重量C.分子表示主钩起重量D.分母表示副钩起重量

用分数形式表示附加的定位轴线时,()。A、分子表示前一轴线编号,分母表示附加轴线的编号B、分母表示前一轴线的编号,分子表示附加轴线的编号C、分母表示后一轴线的编号,分子表示附加轴线的编号D、分子表示后一轴线的编号,分母表示附加轴线的编号

关于A型试片的叙述中,其数字15/100是表示(),()

磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()A、试片厚度为15/100mmB、试片上的槽深为15/100mmC、试片厚度100μm,槽深15μmD、槽深100μm,槽宽15μm

关于A型试片的叙述中,其数字15/100是表示试片厚度100μm,槽深15μm

标注配合公差代号时分子表示孔的公差带代号,分母表示轴的公差带代号。

标注配合公差代号时分子表示孔德公差带号,分母表示轴的公差代号。

标注配合公差代号时分子表示孔的公差带代号,分母表示轴的公差代号。

磁粉探伤用标称为15/100的A型灵敏度试片,它表示()A、试片厚度为15/100mmB、槽深为15/100mmC、试片厚度100微米,槽深15微米D、槽宽15微米,槽深100微米

A型试片15/100表示()A、板厚15/100mmB、槽深15/100mmC、板厚100mm,槽深15mmD、板厚100微米,槽深15微米

探伤前应在被探工件()用15/50A型试片试验应显示清晰。

安全型继电器的型别代号横线后的数字表示线圈电阻数值,分子表示后圈电阻,分母表示前线圈电阻。

配合代号用孔、轴的组合表示,写成分数形式,分子为(),分母为()

FC/FC型连接器中分子FC表示其(),分母FC表示其(),而FC/PC型的分母PC表示其()。

岩心编号用代分数表示,分数前整数表示(),分母表示本回次中(),分子表示本回次中()。

斜纹组织常用分子/分母来表示,其中常用分子表示经组织点数分母表示()。

判断题关于A型试片的叙述中,其数字15/100是表示试片厚度100μm,槽深15μmA对B错

填空题关于A型试片的叙述中,其数字15/100是表示(),()

填空题岩心编号用代分数表示,分数前整数表示(),分母表示本回次中(),分子表示本回次中()。

单选题磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示()A试片厚度为15/100mmB试片上的槽深为15/100mmC试片厚度100μm,槽深15μmD槽深100μm,槽宽15μm

判断题安全型继电器的型别代号横线后的数字表示线圈电阻数值,分子表示后圈电阻,分母表示前线圈电阻。A对B错

填空题探伤前应在被探工件()用15/50A型试片试验应显示清晰。

填空题15/50A型试片,分子表示()分母表示()。

单选题地形图的比例尺用分子为1的分数形式表示时()A分母大,比例尺大,表示地形详细B分母小,比例尺小,表示地形概略C分母大,比例尺小,表示地形详细D分母小,比例尺大,表示地形详细

单选题磁粉探伤用标称为15/100的A型灵敏度试片,它表示()。A试片厚度为15/100mmB槽深为15/100mmC试片厚度100微米,槽深15微米D槽宽15微米,槽深100微米