15/50A型试片，分子表示（）分母表示（）。

15/50A型试片，分子表示（）分母表示（）。

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附加轴线的编号用分数表示,分母表示附加轴线的编号,分子表示前一轴线的编号。()
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地形图的比例尺用分子为1的分数表示,则()。 A、分母大，比例尺大，表示地形详细B、分母小，比例尺大，表示地形概略C、分母大，比例尺小，表示地形详细D、分母小，比例尺大，表示地形详细
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有两套起升机构的起重机、主、副钩的起重量用分数表示，表示方法是( )。A.分母表示主钩起重量B.分子表示副钩起重量C.分子表示主钩起重量D.分母表示副钩起重量
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用分数形式表示附加的定位轴线时，（）。A、分子表示前一轴线编号，分母表示附加轴线的编号B、分母表示前一轴线的编号，分子表示附加轴线的编号C、分母表示后一轴线的编号，分子表示附加轴线的编号D、分子表示后一轴线的编号，分母表示附加轴线的编号
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关于A型试片的叙述中，其数字15/100是表示（），（）
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磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片，它表示（）A、试片厚度为15/100mmB、试片上的槽深为15/100mmC、试片厚度100μm，槽深15μmD、槽深100μm，槽宽15μm
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关于A型试片的叙述中，其数字15/100是表示试片厚度100μm，槽深15μm
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标注配合公差代号时分子表示孔的公差带代号，分母表示轴的公差带代号。
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标注配合公差代号时分子表示孔德公差带号，分母表示轴的公差代号。
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标注配合公差代号时分子表示孔的公差带代号，分母表示轴的公差代号。
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磁粉探伤用标称为15/100的A型灵敏度试片，它表示（）A、试片厚度为15/100mmB、槽深为15/100mmC、试片厚度100微米，槽深15微米D、槽宽15微米，槽深100微米
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A型试片15/100表示（）A、板厚15/100mmB、槽深15/100mmC、板厚100mm，槽深15mmD、板厚100微米，槽深15微米
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探伤前应在被探工件（）用15/50A型试片试验应显示清晰。
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安全型继电器的型别代号横线后的数字表示线圈电阻数值，分子表示后圈电阻，分母表示前线圈电阻。
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配合代号用孔、轴的组合表示，写成分数形式，分子为（），分母为（）
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FC/FC型连接器中分子FC表示其（），分母FC表示其（），而FC/PC型的分母PC表示其（）。
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岩心编号用代分数表示，分数前整数表示（），分母表示本回次中（），分子表示本回次中（）。
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斜纹组织常用分子/分母来表示，其中常用分子表示经组织点数分母表示（）。
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判断题关于A型试片的叙述中，其数字15/100是表示试片厚度100μm，槽深15μmA对B错
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填空题关于A型试片的叙述中，其数字15/100是表示（），（）
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填空题岩心编号用代分数表示，分数前整数表示（），分母表示本回次中（），分子表示本回次中（）。
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单选题磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片，它表示（）A试片厚度为15/100mmB试片上的槽深为15/100mmC试片厚度100μm，槽深15μmD槽深100μm，槽宽15μm
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判断题安全型继电器的型别代号横线后的数字表示线圈电阻数值，分子表示后圈电阻，分母表示前线圈电阻。A对B错
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填空题探伤前应在被探工件（）用15/50A型试片试验应显示清晰。
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填空题15/50A型试片，分子表示（）分母表示（）。
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单选题地形图的比例尺用分子为1的分数形式表示时（）A分母大，比例尺大，表示地形详细B分母小，比例尺小，表示地形概略C分母大，比例尺小，表示地形详细D分母小，比例尺大，表示地形详细
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单选题磁粉探伤用标称为15/100的A型灵敏度试片，它表示（）。A试片厚度为15/100mmB槽深为15/100mmC试片厚度100微米，槽深15微米D槽宽15微米，槽深100微米
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