缺陷所反射的声能大小取决于（ ）。A.缺陷大小B.缺陷取向C.缺陷类型D.缺陷的大小、取向、类型
缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。（）此题为判断题(对，错)。
缺陷反射声能的大小取决于()A.缺陷的尺寸B.缺陷的类型C.缺陷的形状和取向D.以上全部
缺陷“自身”影响缺陷回波高度的因素有：缺陷形状，缺陷所处方位及其指向性，缺陷表面粗糙度，缺陷大小，缺陷性质。
除缺陷的大小和声程外，影响缺陷波高的缺陷自身因素有（）A、缺陷取向B、缺陷形状C、缺陷类型D、缺陷的表面粗糙度
A型扫描显示中，从荧光上直接可获得的信息是：（）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向C、缺陷回波的大小和超声传播的时间D、以上都是
A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（）A、缺陷的性质和大小B、缺陷的形状和取向C、缺陷回波的大小和超声传播的时间D、以上都是
锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、缺陷形状和取向D、以上全部
缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向，缺陷的性质对其回波高度大小没有影响。（）
以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）A、缺陷回波高度与底面回波高度比较B、缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C、以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D、缺陷指示长度测定
对于小于声束截面的缺陷可用（）评定其大小。A、当量法B、缺陷回波高度法C、底面回波高度法D、延伸度定量评定法
A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。A、 缺陷的性质和大小B、 缺陷的形状和取向C、 缺陷的回波幅度和时间距离D、 超声波的波形
缺陷本身的开隙度，取向，表面粗糙度以及内涵物等都会对缺陷回波高度有影响。
缺陷所反射的声能大小取决于（）。A、缺陷大小B、缺陷取向C、缺陷类型D、缺陷的大小、取向、类型
一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）A、相同B、增高C、降低D、延长
缺陷反射声能的大小，取决于（）A、缺陷的尺寸B、缺陷的类型C、缺陷的形状和取向D、以上全部
单选题一个几何形状不是扁平的缺陷，其取向、距离和直径均与扁平的缺陷相同，在相同探伤灵敏度下波束垂直射及时，前者的回波高度与后者的回波高度相比，通常是：（）A相同B增高C降低D延长
单选题缺陷所反射的声能大小取决于（）。A缺陷大小B缺陷取向C缺陷类型D缺陷的大小、取向、类型
多选题除缺陷的大小和声程外，影响缺陷波高的缺陷自身因素有（）A缺陷取向B缺陷形状C缺陷类型D缺陷的表面粗糙度
判断题缺陷的形状、大小和取向直接影响到缺陷的回波高度。A对B错
单选题缺陷反射声能的大小，取决于（）A缺陷的尺寸B缺陷的类型C缺陷的形状和取向D以上全部
单选题锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A边缘效应B工件形状及外形轮廓C缺陷形状和取向D以上全部
判断题缺陷的回波高度主要取决于其大小、形状和取向，缺陷的性质对其回波高度大小没有影响。（）A对B错
判断题缺陷本身的开隙度，取向，表面粗糙度以及内涵物等都会对缺陷回波高度有影响。A对B错
多选题以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）A缺陷回波高度与底面回波高度比较B缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D缺陷指示长度测定
单选题A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。A缺陷的性质和大小B缺陷的形状和取向C缺陷的回波幅度和时间距离D超声波的波形
单选题A型扫描显示中，从荧光屏上直接可获得的信息是：（）A缺陷的性质和大小B缺陷的形状和取向C缺陷回波的大小和超声传播的时间D以上都是