单选题任何一种超声波探伤方法中，正确地解释和评价缺陷回波是很重要的，通常使用的评价缺陷尺寸的方法是（）。A双探头检测法B标准压电元件法C波形转换法D试块对比法

单选题
任何一种超声波探伤方法中，正确地解释和评价缺陷回波是很重要的，通常使用的评价缺陷尺寸的方法是（）。
A

双探头检测法

B

标准压电元件法

C

波形转换法

D

试块对比法

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超声波探伤是依据定向辐射超声波束在缺陷界面产生反射或透过声能下降等原理检查发现缺陷的一种方法。()
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不能检查内部缺陷的探伤方法是()。A、射线探伤B、超声波探伤C、渗透探伤
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C型显示所能提供的超声波探伤记录,其主要参数是() A、缺陷深度和尺寸B、缺陷深度、取向和尺寸C、缺陷的位置和深度D、缺陷的位置和尺寸(平面视图)
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此探伤方法的优点是不受被检试件几何形状、尺寸、化学成分和内部组织结构限制，也不受表面平滑度和缺陷方位限制，缺陷显示直观，一次操作可同时检测开口于表面的所有缺陷。这种检测方法是（ ）。A.超声波探伤B.涡流探伤C.磁粉探伤D.渗透探伤
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超声波探伤试缺陷的位置主要依据探伤图形中显示的（）。A、缺陷回波B、固有信号C、假象信号D、杂乱信号
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用任何方法作超声探伤时，为有效地检测缺陷应使（）。A、超声波束尽可能地与缺陷最大表面垂直B、超声波束与缺陷最大表面平行C、底面回波次数尽可能地多D、超声波束与试件底面垂直
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超声波探伤，根据底面回波的高度变化，判断试件缺陷情况的方法，称为（）。
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超声波探伤，根据仪器示波屏上显示的缺陷回波进行探伤的方法称为（）。
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