判断题重量法测定空气中总悬浮颗粒物时,对于每批滤膜,需要从中抽取20%滤膜,用X光看片机进行检查,以查看滤膜有无针孔或缺陷。A对B错

判断题
重量法测定空气中总悬浮颗粒物时,对于每批滤膜,需要从中抽取20%滤膜,用X光看片机进行检查,以查看滤膜有无针孔或缺陷。
A

B


参考解析

解析: 应对每张滤膜进行检查。

相关考题:

根据《环境空气总悬浮颗粒物的测定重量法》(GB/T 15432-1995),大流量采样法采样、进行大气中总悬浮颗粒物样品称重时,如“标准滤膜”称出的重量在原始重量±( )mg范围内,则认为该批样品滤膜称量合格。A.5B.10C.4.5D.2

测定大气中总悬浮颗粒物滤膜重量的天平,对于大流量采样滤膜,称量范围≥10g,感量1mg,再现性≤()mg。A、1B、2C、3D、4

根据《环境空气总悬浮颗粒物的测定重量法》(GB/T15432-1995),大流量采样法采样、进行大气中总悬浮颗粒物样品称重时,如“标准滤膜”称出的重量在原始重量±()mg范围内,则认为该批样品滤膜称量合格。

测定大气总悬浮颗粒物时,若标准滤膜称出的重量在原始重量的()范围内,则认为该批滤样品滤膜称量合格。

采集大气总悬浮颗粒物时,通常用()滤膜,同时应注意滤膜的毛面向下。

重量法测定大气中总悬浮颗粒物时,如何获得标准滤膜?

采集总悬浮颗粒物样品时,应将称量过的滤膜毛面向上,采集完毕,应将毛面滤膜向里对折放入滤膜袋中。

重量法测定空气中总悬浮颗粒物时,对于每批滤膜,需要从中抽取20%滤膜,用X光看片机进行检查,以查看滤膜有无针孔或缺陷。

用大流量采样器采集空气中的颗粒物样品时,每次称空白滤膜或尘滤膜的同时,称量两张标准滤膜。若标准滤膜称出的重量于原始重量之差在±()mg。中流量为()mg范围内,则认为该批次样品滤膜称量合格,数据可用。

根据《环境空气总悬浮颗粒物的测定重量法》(GB/T15432-1995),采集样品的滤膜为超细玻璃纤维滤膜或聚氯乙烯等有机滤膜。

重量法测定大气中总悬浮颗粒物时,如何获得“标准滤膜”?

重量法测定空气中总悬浮颗粒物要经常检查采样头是否漏气。当滤膜安放正确,采样后滤膜上颗粒物与四周白边之间出现界线模糊时,应更换()。

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属时,先用()滤膜()或滤膜采集颗粒物样品,样品经过消解处理后进行测定。

测定空气中总悬浮颗粒物的重量法,不适用于TSP含量过高或雾天采样使滤膜阻力大于15kPa的情况。

用大流量采样器采集空气中的颗粒物,每次称空白滤膜或尘滤膜的同时,称量两张标准滤膜。若标准滤膜称出的重量与原始重量之差在±()mg(中流量为()mg)范围内,则认为该批样品滤膜称量合格,数据可用。

填空题测定大气总悬浮颗粒物时,若标准滤膜称出的重量在原始重量的()范围内,则认为该批滤样品滤膜称量合格。

填空题根据《环境空气总悬浮颗粒物的测定重量法》(GB/T15432-1995),大流量采样法采样、进行大气中总悬浮颗粒物样品称重时,如“标准滤膜”称出的重量在原始重量±()mg范围内,则认为该批样品滤膜称量合格。

填空题重量法测定空气中总悬浮颗粒物要经常检查采样头是否漏气。当滤膜安放正确,采样后滤膜上颗粒物与四周白边之间出现界线模糊时,应更换()。

问答题重量法测定大气中总悬浮颗粒物时,如何获得“标准滤膜”?

判断题总悬浮颗粒物含量过高或雾天采样使滤膜阻力大于10kpa时,不宜采用重量法测定总悬浮颗粒物()A对B错

填空题用大流量采样器采集空气中的颗粒物,每次称空白滤膜或尘滤膜的同时,称量两张标准滤膜。若标准滤膜称出的重量与原始重量之差在±()mg(中流量为()mg)范围内,则认为该批样品滤膜称量合格,数据可用。

填空题用大流量采样器采集空气中的颗粒物样品时,每次称空白滤膜或尘滤膜的同时,称量两张标准滤膜。若标准滤膜称出的重量于原始重量之差在±()mg。中流量为()mg范围内,则认为该批次样品滤膜称量合格,数据可用。

问答题重量法测定大气中总悬浮颗粒物时,如何获得标准滤膜?

填空题采集大气总悬浮颗粒物时,通常用()滤膜,同时应注意滤膜的毛面向下。

填空题电感耦合等离子体原子发射光谱法测定环境空气总悬浮颗粒物中金属和非金属时,先用()滤膜()或滤膜采集颗粒物样品,样品经过消解处理后进行测定。

判断题采集总悬浮颗粒物样品时,应将称量过的滤膜毛面向上,采集完毕,应将毛面滤膜向里对折放入滤膜袋中()A对B错

判断题根据《环境空气总悬浮颗粒物的测定重量法》(GB/T15432-1995),采集样品的滤膜为超细玻璃纤维滤膜或聚氯乙烯等有机滤膜。A对B错