单选题连续谱X射线透照工件时，随着透照厚度的增加，总的强度递减，而平均波长值（）。A变小B变大C不变D以上都不对
单选题
连续谱X射线透照工件时，随着透照厚度的增加，总的强度递减，而平均波长值（）。
A
变小
B
变大
C
不变
D
以上都不对
参考解析
解析：
暂无解析
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以下关于X射线照相曝光曲线形式的说法正确的是（）A、横座标表示工件的透照厚度B、纵座标（对数座标）表示曝光量（毫安与时间的乘积）C、用一组斜线表示相应的管电压值时的透照厚度和曝光量之间的关系D、以上都对
DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）
对环焊缝作源在外的单壁透照时，确定透照次数与（）相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。A、窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B、宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C、窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器D、以上B和C均正确
单选题窄束射线和宽束射线，在透照工件时出现下列情况（）。A窄束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B宽束透照工件时，未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C窄束透照工件时，只有未散射的透过射线I到达检测器D以上B和C均正确
判断题DL/T821一2002规定，对较大直径管道对接接头射线透照检验时，为提高横向裂纹检出率，应选用周向X射线机或γ射线源，采用中心全周透照法。若采用其他透照方法，则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足：环缝K值不大于1.2，纵缝K值不大于1.03。（）A对B错
单选题以下关于X射线照相曝光曲线形式的说法正确的是（）A横座标表示工件的透照厚度B纵座标（对数座标）表示曝光量（毫安与时间的乘积）C用一组斜线表示相应的管电压值时的透照厚度和曝光量之间的关系D以上都对
单选题采用与被透照工件对射线吸收性质相同或相近的材料制成，用于填补工件不同厚度部分，使工件的透照厚度趋于一致，这种被称之为（）A补偿块B补偿粉C补偿液D以上都是