判断题数字超声检测系统校准实际上就是探头入射零点的校准和K值测量。A对B错

判断题
数字超声检测系统校准实际上就是探头入射零点的校准和K值测量。
A

对

B

错

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关于校准品的说法错误的是A、校准品即为标准液B、不能用定值质控血清代替校准品C、校准品具有专用性，它只能专用于指定的检测系统D、校准品的作用是为检测结果赋值E、酶校准品用来确定校准K值
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回答下列防腐涂层厚度检测的问题。（3）涂层测厚仪检测前要校准校准的方法为（）。A.仪器自动校正B.通过自检程序校准C.激光校准D.用探头测量校准试块校准
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超声波测厚仪检测前要校准。校准方法为用校准试块校准。（ ）
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涂层测厚仪检测前要校准，校准方法为()。 A.仪器自动校准B.通过自检程序校准C.激光校准D.用探头测量校准试块校准
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回答下列防腐涂层厚度检测的问题。（3）涂层测厚仪检测前要校准。校准方法为（ ）。A.仪器自动校准B.通过自检程序校准C.激光校准D.用探头测量校准试块校准
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超声检测前，探伤仪校准的主要内容是仪器的扫描速度和检测系统的水平线性校准。
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CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
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数字式电压表在测量电压之前，需进数字“零值”调整及“电压”校准。
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实验室应配备正确进行检测和（或）校准所要求的所有（）设备。A、抽样B、测量C、检测D、校准
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测量环境条件危及到检测或校准的结果时，应停止检测和校准。（）
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数字超声检测系统校准实际上就是探头入射零点的校准和K值测量。
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CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
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用于检测和（或）校准的（），包括对检测、校准和抽样结果的准确性或有效性有显著影响的辅助测量设备（例如用于测量环境条件的设备），在投入使用前应进行校准。
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仪器和探头测距校准包括（）。A、校准零点B、校准比例C、以上两种情况都包括D、校准灵敏度
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对比试块是用来校准超声波探伤系统的（）和测量范围。
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对THDS-A探测系统直流探头零点漂移的描述错误的是（）A、测量探头的零点漂移最好在室内检测B、计时达到5分钟时再用万用表测量探头的输出值C、5分钟时探头的输出值与5分钟前探头输出值的差值为探头的零点漂移量D、漂移只能为正值
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数字式电压表在测量电压之前，需进行数字“零值”调整及“电压”校准。
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实验室应配备正确进行的检测和校准所要求的所有（）设备。A、抽样B、测量C、检测D、校准
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某六西格玛团队在测量阶段对某关键检测设备进行测量系统分析前，计量部门的人说，该设备定期进行校准，不必再进行测量系统分析。有关设备校准和测量系统分析之间的关系，正确的是（）A、定期校准可以保证测量系统的有效性，因此不必专门进行测量系统分析B、校准可以消除或减少测量系统的偏倚（bias）C、定期进行GRR研究一般可以代替定期校准D、定期进行GRR研究不能代替定期校准
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数字式电压表在测量电压之前，需进数字“零值”调整及“（）”校准。
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数字化超声探伤仪可自动测试探头的“零点”、“K值”、“前沿”及材料的（）。
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进行测量系统综合误差校准时，温度测量系统可以在测量回路任何方便的部位输入校准信号，其它测量系统应在测量回路的源点输入校准信号，在测量系统的终端显示装置上读取并记录显示值。
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判断题CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。A对B错
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判断题CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。A对B错
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多选题某六西格玛团队在测量阶段对某关键检测设备进行测量系统分析前，计量部门的人说，该设备定期进行校准，不必再进行测量系统分析。有关设备校准和测量系统分析之间的关系，正确的是（）A定期校准可以保证测量系统的有效性，因此不必专门进行测量系统分析B校准可以消除或减少测量系统的偏倚（bias）C定期进行GRR研究一般可以代替定期校准D定期进行GRR研究不能代替定期校准
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填空题数字化超声探伤仪可自动测试探头的“零点”、“K值”、“前沿”及材料的（）。
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