填空题双向斜测时,两探头高差越(),缺陷定位越()。

填空题
双向斜测时,两探头高差越(),缺陷定位越()。

参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

桩身缺陷越严重,缺陷处透射波强度越弱。

采用工艺孔定位,通常在压延件上都是用两个孔距(),定位越()。A、越近,可靠B、越远,可靠C、越远,不可靠D、近,难

用不同角度的探头对同一缺陷探测时,所得缺陷的深度是不同的。

双向斜测时,两探头高差越大,缺陷定位越准确。

涂料密度越大,粘度越低,湿漆膜越厚,越容易产生缺陷。

对圆柱形简体环缝探测时的缺陷定位应:()A、按平板对接焊缝方法B、作曲面修正C、使用特殊探头D、视具体情况而定采用各种方法

为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷,凹曲面周向斜探头探伤应选用()A、小K值探头B、大K值探头C、软保护膜探头D、高频探头

铁磁性试件内的磁感应强度一定时,特定位形的表面缺陷的自身高度越(),则漏磁场强度应越()

下面有关AVG曲线的说法中那种说法是对的()A、缺陷越大,AVG曲线越适用B、越接近探头的区域,AVG曲线越准确C、从AVG曲线上确定的缺陷当量与实际缺陷完全一致D、在AVG曲线上,由于探头附近的种种干扰,限制了这一距离内的缺陷回波的辩认或评定, 因而存在最小可测距离的限制

一般来说探头指向角越小()从而可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。A、 主声束越窄B、 声能量越集中C、 探测灵敏度越高D、 以上都对

一般来说探头指向角越小,主声束越窄,从而可以提高对缺陷的()和准确判断缺陷的位置。A、分辨力B、性质C、趋向D、当量

分辨力是仪器和探头的综合性能指标。能区分相邻两缺陷的距离越小,分辨力()。A、 越高B、 不变C、 越低D、 以上都对

在超声波探伤中,探头芯片厚度与探头频率有关,芯片越厚,频率()。A、越高B、越低C、变化不大

70°探头探伤时,伤波越靠前,则表明伤损离轨面越近。

同直径探头中,压电芯片的厚度越薄扩散角越(),频率越()扩散角越大。

合金的结晶温度区间越宽,其铸造性能越(),越容易形成()(缩孔,缩松)缺陷。

终端中的电压合格率计算方式为()。A、(1-(电压越下限时间)/电压总监测时间)*100%B、(1-(电压越上限时间)/电压总监测时间)*100%C、(1-(电压越上限时间+电压越下限时间)/电压总监测时间)*100%D、以上说法均不对

填空题同直径探头中,压电芯片的厚度越薄扩散角越(),频率越()扩散角越大。

填空题双向斜测时,两探头高差越(),缺陷定位越()。

填空题铁磁性试件内的磁感应强度一定时,特定位形的表面缺陷的自身高度越(),则漏磁场强度应越()

判断题桩身缺陷越严重,缺陷处透射波强度越弱。A对B错

单选题一般来说探头指向角越小(),从而可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。A主声束越窄B声能量越集中C探测灵敏度越高D以上都对

单选题分辨力是仪器和探头的综合性能指标。能区分相邻两缺陷的距离越小,分辨力()。A越高B不变C越低D以上都对

单选题在超声波探伤中,探头芯片厚度与探头频率有关,芯片越厚,频率()。A越高B越低C变化不大

判断题双向斜测时,两探头高差越大,缺陷定位越准确。A对B错

多选题关于越岭线的说法,正确的有下列哪些选项?(  )A相对高差200~500m时,二、三、四级公路越岭线平均纵坡应不大于5.5%B相对高差在500m以上时,二、三、四级公路越岭线平均纵坡应不大于5%C克服高差是越岭线布线的关键D越岭线应走在直连线与匀坡线之间

单选题为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷,凹曲面周向斜探头探伤应选用()A小K值探头B大K值探头C软保护膜探头D高频探头

单选题下面有关AVG曲线的说法中那种说法是对的()A缺陷越大,AVG曲线越适用B越接近探头的区域,AVG曲线越准确C从AVG曲线上确定的缺陷当量与实际缺陷完全一致D在AVG曲线上,由于探头附近的种种干扰,限制了这一距离内的缺陷回波的辩认或评定, 因而存在最小可测距离的限制