单选题在DR平板探测器上,哪一部分的电压降可忽略不记()A信号存储电容B介质层C方块电极层D电荷收集电容E其他

单选题
在DR平板探测器上,哪一部分的电压降可忽略不记()
A

信号存储电容

B

介质层

C

方块电极层

D

电荷收集电容

E

其他


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

关于DR操作,下列错误的是A、平板探测器在整洁和适当的环境条件才能发挥最佳性能B、每次开机应按要求预热C、不具备自动跟踪功能D、不需要根据摄影部位大小选择不同的平板探测器E、影像处理参数丰富

关于DR探测器的类型,错误的是A.非晶硒平板型探测器B.非晶硅平板型探测器C.碘化铯平板型探测器D.多丝正比室扫描DRE.CCD摄像机型DR

属于DR成像直接转换方式的是A.非晶硒平板探测器B.碘化铯+非晶硅平板探测器C.利用影像板进行X线摄影D.固定IP+CCD摄像机阵列E.硫氧化钆:铽+非晶硅平板探测器

DR使用的检测装置是A.影像板B.影像增强器C.平板探测器D.电离室SX DR使用的检测装置是A.影像板B.影像增强器C.平板探测器D.电离室E.光电管

数字X线摄影(DR)不包括A.直接转换平板探测器B.间接转换平板探测器C.多丝正比室探测器D.闪烁体+CCD摄像机阵列E.线扫描计算机X线摄影

在DR平板探测器上,哪一部分的电压降可忽略不记()A、信号存储电容B、介质层C、方块电极层D、电荷收集电容E、其他

关于CR、DR说法不正确的为()。A、均是将模拟量转换为数字量B、DR信噪比比CR高C、DR没有搬运IP的环节,减少故障诱发率D、DR探测器像素尺寸都比CR探测器像素尺寸大E、CR在价格上一般要比DR便宜

DR使用的检测装置是()A、影像板(IP)B、影像增强器C、平板探测器D、电离室E、光电管

属于DR成像间接转换方式的部件是()A、增感屏B、非晶硒平板探测器C、碘化铯+非晶硅探测器D、半导体狭缝线阵探测器E、多丝正比电离室

DR成像设备类型包括()。A、非晶硒平板型探测器B、非晶硅平板探测器型C、IP成像方式D、多丝正比室扫描投影DRE、CCD摄像机型DR

根据平板探测器的类型,数字化X线摄影系统(DR)分为哪几种?

HACCP小组在描述产品时应记录成分和加工方法,但对其分发方式可忽略不记。

DR使用的探测器装置是()A、影像板B、影像增强器C、平板探测器D、电离室E、光电管

DR使用的检测装置是()。A、IP板B、影像增强器C、平板探测器D、电离室E、光电管

判断题移动DR240和220平板探测器可以互换A对B错

问答题根据平板探测器的类型,数字化X线摄影系统(DR)分为哪几种?

单选题岛津DR采用无线平板探测器品牌是()A岛津B奕瑞C佳能D富士

单选题DR使用的探测器装置是()A影像板B影像增强器C平板探测器D电离室E光电管

单选题GE悬吊DR无线平板探测器刷新速度是()msA200B300C100D150

单选题数字X线摄影(DR)不包括(  )。A直接转换平板探测器B间接转换平板探测器C多丝正比室探测器D闪烁体+CCD摄像机阵列E线扫描计算机X线摄影

多选题DR成像设备类型包括()。A非晶硒平板型探测器B非晶硅平板探测器型CIP成像方式D多丝正比室扫描投影DRECCD摄像机型DR

单选题DR使用的检测装置是()AIP板B影像增强器C平板探测器D电离室E光电管

单选题目前最常用的DR系统为(  )。ACsI+CCD阵列B非晶硅平板探测器C非晶硒平板探测器D多丝正比电离室E计算机X线摄影

判断题HACCP小组在描述产品时应记录成分和加工方法,但对其分发方式可忽略不记。A对B错