单选题下列关于散射校正精度的描述，错误的一项是（）。A散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力B用散射校正后的剩余误差ΔC描述散射校正精度C在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，ΔC=（Ccold/CB）×100%DCcold为图像上冷插件内计数ECB为图像上的总计数
单选题
下列关于散射校正精度的描述，错误的一项是（）。
A
散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力
B
用散射校正后的剩余误差ΔC描述散射校正精度
C
在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，ΔC=（Ccold/CB）×100%
D
Ccold为图像上冷插件内计数
E
CB为图像上的总计数
参考解析
解析：
进行散射校正后，冷插件中的计数与热背景中计数的百分比为剩余误差ΔCΔC=（Ccold/CB）×100%，式中，Ccold为图像上冷插件内计数；CB为图像上插件的热背景中计数的平均值。
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下列关于随机符合校正精度的描述，错误的一项是A、描述PET系统对随机符合及由此时间引起的计数丢失的校正精度B、用校正后的剩余相对误差△R表示校正精度C、△R=(Rtrues/／Rextrap -1)×100%D、Rtrues为真实符合计数率E、Rextrap为无随机符合和计数丢失情况下的计数率
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对管电压和散射线的描述，错误的是A．散射线含有率随管电压升高而加大B．管电压升高，散射线光子的散射角变小C．散射角越小的散射线光子能量越小D．散射角越大的散射线产生胶片灰雾机会越小E．90kY以上时，散射线含有率趋向平稳
下列有关断层空间分辨率的描述，错误的是A、包含3个方向的分辨率：x方向、y方向、z方向B、用点源或线源的扩展函数在不同断层中的半高宽( FWHM)来表示C、分有散射和无散射两种情况D、FWHM越大，分辨率越高E、准直器的类型、衰减校正、散射、晶体厚度、重建算法等都会影响空间分辨率
下列关于散射线及其影响因素的描述哪项错误 ( ) A、管电压越高，散射线越多B、在一定厚度内，被照物体越厚散射线越多C、增感屏速度越快，散射线越少D、散射线是离开原射线束的折射光子E、照射野的大小是产生散射线的重要因素
有关衰减校正的描述正确的是 ( )A、对于无CT的SPECT，图像重建时一般未进行衰减校正B、在采集图像前进行的衰减校正称前校正C、后校正法包括几何平均法和算术平均法D、几何平均法和算术平均法只适用于泛源的情况E、散射的影响使实测的衰减系数比良好几何条件下的衰减系数小
下列关于散射校正精度的描述，错误的一项是（）。A、散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力B、用散射校正后的剩余误差ΔC描述散射校正精度C、在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，ΔC=（Ccold/CB）×100%D、Ccold为图像上冷插件内计数E、CB为图像上的总计数
下列关于散射分数的描述，错误的一项是（）。A、PET系统对散射计数的敏感程度，散射分数越小，系统剔出散射符合的能力越强B、散射分数有断层散射分数和系统散射分数C、某一断层面i的散射分数SFi等于该断层中散射计数与总计数之比D、散射分数计算时总计数为真符合、散射符合计数、随机符合计数之和E、系统的散射分数SF等于所有断层面的散射分数SFi的平均
下列有关衰减校正的描述正确的是（）A、对于无CT的SPECT，图像重建时一般未进行衰减校正B、在采集图像前进行的衰减校正称前校正C、后校正法包括几何平均法和算术平均法D、几何平均法和算术平均法只适用于泛源的情况E、散射的影响使实测的衰减系数比良好几何条件下的衰减系数小
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单选题下列关于散射分数的描述，错误的一项是（）。APET系统对散射计数的敏感程度，散射分数越小，系统剔出散射符合的能力越强B散射分数有断层散射分数和系统散射分数C某一断层面i的散射分数SFi等于该断层中散射计数与总计数之比D散射分数计算时总计数为真符合、散射符合计数、随机符合计数之和E系统的散射分数SF等于所有断层面的散射分数SFi的平均
单选题下列关于散射校正精度的描述，错误的一项是（）。A散射校正精度描述PET系统对散射符合事件的剔除能力B用散射校正后的剩余误差ΔC描述散射校正精度C在热背景中插入冷插件，进行散射校正后，ΔC=（Ccold/CB）×100%DCcold为图像上冷插件内计数ECB为图像上的总计数
单选题下列关于散射线及其影响因素的描述哪项错误（）A管电压越高，散射线越多B在一定厚度内，被照物体越厚散射线越多C增感屏速度越快，散射线越少D散射线是离开原射线束的折射光子E照射野的大小是产生散射线的重要因素
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