单选题胶片射线照相时,象质计通常放在()A增感屏和胶片之间B胶片侧工件表面C射源侧工件表面DB和C都有可能

单选题
胶片射线照相时,象质计通常放在()
A

增感屏和胶片之间

B

胶片侧工件表面

C

射源侧工件表面

D

B和C都有可能


参考解析

解析: 暂无解析

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按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》规定,单壁透照中,如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时,应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告上注明。()

平板射线照相时,下面四种关于象质计摆放的叙述,唯一正确的位置是()A、近胶片一侧的工件表面,并应靠近胶片端头;B、近射源一侧的工件表面,金属丝垂直焊缝,并位于工件中部;C、近胶片一侧的工件表面,并应处在有效照相范围一端的焊缝上,金属丝垂直于焊缝,细丝在外;D、近射源一侧有效照相范围一端的焊缝上,金属丝垂直于焊缝,细丝在外。

当象质计放在胶片侧工件表面时,应附加()标记以示区别。

射线照相图象的密度是指:()A、胶片厚度B、试样厚度C、胶片重量D、胶片黑化度

当采用双壁单影透照法时,象质计应放在()。

胶片射线照相时,象质计通常放在()A、增感屏和胶片之间B、胶片侧工件表面C、射源侧工件表面D、B和C都有可能

有关像质计使用的说法正确的是()A、摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对

射线照相中,使用象质计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、评价底片灵敏度C、测定底片清晰度D、以上都是

透度计用来指示()A、零件中缺陷的尺寸B、胶片密度C、胶片对比度D、射线照相底片的质量

在对焊缝作射线照相时,线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置?()A、透照场中心,焊缝上(与射线源同侧)B、透照场一端,焊缝上(与射线源同侧)C、透照场中心,焊缝上(与胶片同侧)D、透照场一端,焊缝上(与射线源异侧)

测试射线实时成像系统图像分辨力通常用()A、孔型象质计B、线对测试卡C、双丝象质计D、B和C

胶片射线照相时,透度计通常放于:()A、增感屏和胶片之间B、被检物体靠近射线源地一侧C、被检物体靠近胶片地一侧D、操作者和射线源之间

通常应将像质计放在工件射线源侧的表面上,并靠近被检工件的边缘。

以下有关对比试验的说法正确的是()A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对

像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。

采用射线源至于圆心位置的周向曝光技术时,象质计应放在(),每隔90度放一个。

射线照相法是利用X、γ射线穿透工件,以()作为记录信息的无损检测方法。A、像质计B、胶片C、评定尺D、增感屏

采用中子照相法时,其曝光需要先经过转换屏转换,然后()。A、直接在荧光屏显示缺陷图象B、利用荧光增感屏+X射线胶片曝光C、再使用X射线胶片曝光D、以上都不对

当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在射源侧情况的区别。

射线照相检验,透度计通常放在()。A、增感屏和胶片之间B、被检物体靠近射线源的一侧C、被检物体靠近胶片的一侧D、增感屏和被检物体之间

当采用像质计置放在胶片侧时,应在胶片上放置识别铅字母,例如“F”,以示该底片上像质计影像与放置在放射源侧情况的区别。()

填空题当象质计放在胶片侧工件表面时,应附加()标记以示区别。

单选题在对焊缝作射线照相时,线型像质计应放在有效照相范围的下述哪个位置?()A透照场中心,焊缝上(与射线源同侧)B透照场一端,焊缝上(与射线源同侧)C透照场中心,焊缝上(与胶片同侧)D透照场一端,焊缝上(与射线源异侧)

单选题测试射线实时成像系统图像分辨力通常用()A孔型象质计B线对测试卡C双丝象质计DB和C

单选题射线照相检验,透度计通常放在()。A增感屏和胶片之间B被检物体靠近射线源的一侧C被检物体靠近胶片的一侧D增感屏和被检物体之间

单选题胶片射线照相时,透度计通常放于:()A增感屏和胶片之间B被检物体靠近射线源地一侧C被检物体靠近胶片地一侧D操作者和射线源之间

单选题射线照相图象的密度是指:()A胶片厚度B试样厚度C胶片重量D胶片黑化度