多选题在芯片生产车间，每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数，对于控制图的选用，下列正确的是（）A使用C控制图最方便B也可以使用U控制图，效果和C控制图相同，但不如C控制图方便C也可以使用p控制图，效果和C控制图相同，但不如C控制图方便D使用np控制图，效果和C控制图相同
多选题
在芯片生产车间，每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数，对于控制图的选用，下列正确的是（）
A
使用C控制图最方便
B
也可以使用U控制图，效果和C控制图相同，但不如C控制图方便
C
也可以使用p控制图，效果和C控制图相同，但不如C控制图方便
D
使用np控制图，效果和C控制图相同
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在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是:() A.使用C控制图最方便B.也可以使用U控制图，效果和C控制图相同，但不如C控制图方便C.也可以使用p控制图,效果和C控制图相同，但不如C控制图方便D.使用np控制图,效果和C控制图相同
在半导体芯片生产中，要将直径8英寸（约合20厘米）的晶圆盘（wafer）切削成3000粒小芯片（die）。目前由于工艺水平的限制，小芯片仍有约百分之一至二的不良率。在试生产了一段时间，生产初步达到了稳定。为了检测小芯片的不良率，在两个月内每天固定抽检5个晶圆盘，测出不良小芯片总数，要根据这些数据建立控制图，这时应选用下列何种控制图（）？A、NP图和P图都可以，两者效果一样B、NP图和P图都可以，NP图效果更好NP样本大小不变C、NP图和P图都可以，P图效果更好D、以上都不对
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F芯片厂要严格监控暇疵点的出现。上个月份由于需求有较大变化，生产量因此也有较大变化，当时每天按千分之一的产量抽样芯片，每天抽取量在60片至100片间。在记录了暇疵点数据后，下列考虑中哪些是正确的：（）A、可以使用C图或U图，二者功效大体相同B、可以使用C图或U图，C图比U图功效更好C、只能用U图，对于每片平均暇疵点数进行监控D、只能用C图，对于总暇疵点数进行监控
芯片镀膜是某企业生产中关键的一步，为此必须对于镀膜厚度进行监控。通常将芯片固定在测试台后，由中心向外每45度画出射线将芯片分为等面积的8个扇形区域，在每个扇形内任意选取一点，测量出这8个点的厚度。现在生产已经相当稳定，为了维持它的稳定性，决定对于厚度的均值及波动都进行检测。这时，按国家标准的规定，控制图应该选用：（）A、使用Xbar-R控制图B、使用Xbar-S控制图C、使用p图或np图D、使用C图或U图
企业生产供家电用钢板，钢板上会偶然出现一些瑕疵点。每天抽100块钢板，抽取20天，平均每天出现的瑕疵点是4个，欲用C控制图监控生产过程，则以下控制限设定正确的是：（）A、UCL=10，LCL=-2B、UCL=10，LCL=0C、UCL=16，LCL=-8D、UCL=16，LCL=0
单选题芯片镀膜生产车间每小时抽5片芯片测量其镀膜的厚度，共检测了48小时，获得240个数据。经趋势图分析发现，各小时5片镀膜厚度之均值大体是稳定的，数据也服从正态分布。但发现各小时内的差异较小，但各小时间差异较大。六西格玛团队对如何进行SPC（统计过程分析）发生了分歧。正确的意见是：（）A变异来源不仅包含随机误差。此时，必须等待清除组间变异变大的情况后，才能使用SPCB其实只要将每小时芯片镀膜厚度之均值求出，对48个数据绘制单值一移动极差（X一MR）控制图即可C求出各小时芯片镀膜厚度之均值，对之绘制单值一移动极差（X一八妞）控制图外，再绘制各小时的极差（R）控制图，三张控制图同时使用即可控制过程D解决此类问题的最好方法是使用EWMA控制图
单选题在为芯片镀膜的生产过程中，膜厚是关键尺寸。为了监控镀膜的厚度，每间隔1小时在生产线上终端抽取1片芯片，每片测量3行3列共9个固定位置处的厚度并作为一个子组数据，希望建立相应有效的控制图，最佳的选择是：（）AX-R控制图BX-S控制图C单值移动极差控制图。DC图或U图。
单选题K公司生产潜水泵，其中有道工序是对潜水泵外层镀防锈膜。每台潜水泵镀膜平均暇疵点数为4。对于暇疵点的C控制图的上下控制限为：（）ALCL=0，UCL=16BLCL=0，UCL=10CLCL=0，UCL=8DLCL=1，UCL=7
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单选题①少林寺是一座有着近两千年历史的闻名________迩的古刹。 ②我有一个血玉手镯，虽然有一点________疵，但是祖上传下来的，一直珍藏着。 ③家具展览会上，不同款式和不同造型的沙发让人目不________接。 ④这孩子很有灵性，倘若________以时日，一定能成为一个优秀的歌手。 填入划横线部分最恰当的一项是：（）A暇；遐；瑕；假B暇；瑕；假；遐C遐；瑕；暇；假D遐；暇；假；瑕
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