计算过程能力Cpk数值，需要收集数据：USL规格上限、LSL规格下限、（）、σ为过程标准差、极差R。
计算过程能力Cpk数值，需要收集数据：USL规格上限、LSL规格下限、（）、σ为过程标准差、极差R。
相关考题：
某元件的质量特性X服从正态分布，即X～N(μ，σ2)USL与LSL为它的上下规范限，不合格品率P=PL+PU，其中（ ）。A．PL=φ[(LSL—μ)/σ]B．PL=1-φ[(LSL—μ)/σ]C．JPu=φ[(USL—μ)/σ]D．Pu=1-φ[(USL-μ)/σ]
从某批电阻中抽出5个样品,测得电阻值分别为8.1Ω,7.9Ω,8.0Ω,8.1Ω,8.2Ω,若电阻的规格限为LSL=7.79,USL=8.21,且这批电阻的电阻值服从正态分布,则电阻低于下规格限的概率PL=________。A．Φ(2.37)B．1-Φ(2.37)C．Φ(1.32)D．1-Φ(1.32)
设某质量特性X为μ=54,σ=的3正态分布,它的上、下规范限USL=65,LSL=35,设定质量特性的目标值为50,计算过程能力指数Cpm为:() A.1.667B.1.222C.1D.0.733
过程能力指数Cpk是过程能力满足标准(规格或公差)程度(Cpk)的表述正确的有()。 A.表明过程能力充分B.表明过程能力充分C.表明过程能力严重不足，过程的不合格品率高达50%D.表明过程能力充分E.表明过程能力不足
使用控制图对具有双侧规格限的质量特性值进行控制，中心线位于规格中心，计算出的过程能力指数Cp1，下列推断中，正确的有（ ）。A.上下规格限与上下控制限重合B.上规格限位于上控制限上方C.下规格限位于下控制限上方D.此时Cpk=CpE.此时过程的不合格品率高于1％
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。Cpk ( )。A. 2/3 B. 4/3C. 1 D. 1.5
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。Cp为（ ）。A. 2/3 B. 4/3C. 1 D. 1.5
某六西格玛项目团队收集数据后使用Minitab分析过程能力Cpk值为1.39，其中一个组员也抄录了原始数据，但未按照收集顺序进行记录，用Minitab进行分析后Cpk值为1.51，作为黑带，应该如何解释？（）A、因为数据顺序变化导致平均值变化，所以Cpk值有变化B、这是软件分析的误差导致，可以不必在意C、因为数据的变化导致规格变化，所以Cpk值变化D、因为数据的变化导致标准差变化，所以Cpk值变化
过程能力指数Cpk是过程能力满足标准（规格或公差）程度的度量，下述关于过程能力指数Cpk的表述正确的有（）A、Cpk1 表明过程能力充分B、Cpk=1 表明过程能力充分C、Cpk=0 表明过程能力严重不足，过程的不合格品率高达50%D、Cpk1.33 表明过程能力充分E、Cpk1 表明过程能力不足
单选题某六西格玛项目团队收集数据后使用Minitab分析过程能力Cpk值为1.39，其中一个组员也抄录了原始数据，但未按照收集顺序进行记录，用Minitab进行分析后Cpk值为1.51，作为黑带，应该如何解释？（）A因为数据顺序变化导致平均值变化，所以Cpk值有变化B这是软件分析的误差导致，可以不必在意C因为数据的变化导致规格变化，所以Cpk值变化D因为数据的变化导致标准差变化，所以Cpk值变化
多选题某元件的质量特性X服从正态分布，即X～N(μ,σ2)USL与LSL为它的上下规范限，不合格品率p=pL+pU，其中( )。ApL=Φ{(LSL-μ)/σ}BpL=1-Φ{(LSL-μ)/σ}CpL=Φ{(LSL-μ)/σ}-1DpU =Φ{(USL-μ)/σ}EpU=1-Φ{(USL-μ)/σ}
单选题参数Set Head控制规格UAAR-LAAR=60刀，则该参数USL-LSL至少为（）。A100刀B200刀C300刀