数字集成电路的逻辑功能测试可分为（）和（）两个步骤。
数字集成电路的逻辑功能测试可分为（）和（）两个步骤。
相关考题：
● 软件测试按级别可分为 （63） 。A. 单元测试、部件测试、配置项测试、系统测试B. 黑盒测试、白盒测试、灰盒测试C. 代码走查、逻辑测试、功能测试、性能测试D. 接口测试、边界测试、部件测试、系统测试
大型软件测试的基本步骤是(60)。A．单元测试、集成测试、功能测试和安全测试B．单元测试、集成测试、确认测试和系统测试C．单元测试、集成测试、功能测试和性能测试D．单元测试、集成测试、功能测试、性能测试和验收测试
软件测试按级别可分为______。A．单元测试、部件测试、配置项测试、系统测试B．黑盒测试、白盒测试、灰盒测试C．代码走查、逻辑测试、功能测试、性能测试D．接口测试、边界测试、部件测试、系统测试
测试用例是测试使用的文档化的细则，其规定如何对软件某项功能或功能组合进行测试。测试用例应包括下列（ ）内容的详细信息。①测试目标和被测功能。②测试环境和其他条件。③测试数据和测试步骤。④测试记录和测试结果。A.①③B.①②③C.①③④D.①②③④
单选题基本功能测试的主要工作步骤包括：明确产品的功能和特性、制定测试方案和（）。A预测测试结果B按照方案进行测试C编写测试报告D记录测试问题