（康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、功放板C、调理板D、温控板
（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
（哈科）THDS-C系统光子曲线的完整性决定了光子探头温度采集的准确性，每条曲线长度为32个点。
THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。
（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。
（哈科）THDS-B系统中器件温度是光子探头信号。
（康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。
（哈科）THDS-C系统直流光子探头静态输出电压：+1.000±0.010V。
（哈科）THDS-C系统月检时要求直流光子探头漂移小于150mV/5min。
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板，具有3种调整制冷方式。
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板
（哈科）THDS-C系统直流光子探头静噪声：≤10mV（有效值）。
（哈科）THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数：2路，每路控制1个光子探头。
THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。
判断题（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A对B错
判断题THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A对B错
判断题（哈科）THDS-C系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。A对B错
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。A对B错
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A对B错
判断题（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A对B错
判断题（哈科）THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数：2路，每路控制1个光子探头。A对B错
判断题THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。A对B错
判断题（哈科）THDS-C系统光子曲线的完整性决定了光子探头温度采集的准确性，每条曲线长度为32个点。A对B错
判断题（康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。A对B错