技术测试中对于备用纤芯平均损耗的要求为1550nm应小于0.25DB/公里。
技术测试中对于备用纤芯平均损耗的要求为1550nm应小于0.25DB/公里。
相关考题：
对于G.652光纤，一般情况下，1550nm波长的光信号每公里衰减0.25dB，工程计算一般按照每公里衰减0.29dB计算。每个活动接头衰耗小于0.5dB，每个熔接头衰耗小于0.02dB，每2～5公里增加一个熔接头.开局可根据两站点之间的距离，来选用不同的光模块，计算衰耗需保留（）以上的余量。
光源光功率计光纤全程传输损耗的竣工测试应当取（）为全程损耗的最终值。A、1310nm波长处双向测试平均值B、1550nm波长处单项测试值C、1310nm处与1550nm处双向测试平均值D、以上均可
下列关于备用光纤测试的叙述正确的是（）。A、备用光纤测试工作量较大B、备纤测试必须集中进行C、用OTDR进行备纤测试时，不必在1550nm和1310nm双波长都进行D、每年的备纤测试没有必要对所有备纤都做测试记录
下列叙述与ITU-T对G.652和G.653光纤在1550nm波长区弯曲损耗规定吻合的是（）。A、G.652光纤，以半径为37.5mm松绕100圈，在1550nm波长区测得的损耗增加值应小于1.0dBB、G.652光纤，以半径为37.5mm松绕100圈，在1550nm波长区测得的损耗增加值应小于3.0dBC、G.653光纤，以半径为37.5mm松绕100圈，在1550nm波长区测得的损耗增加值应小于0.5dBD、G.653光纤，以半径为37.5mm松绕100圈，在1550nm波长区测得的损耗增加值应小于3.5dB
对于接头质量评价描述错误的是（）A、如工程要求平均连接损耗为0.1dB，内控指标可按0.08dB要求B、对测试值大于0.08dB的接头，一般不要求重新连接C、对于测试值为负的接头，一般应看其绝对值大小D、对损耗较大时，应作重新接续
衰耗测试指标，对于光纤，以下描述正确的是（）。A、G.652光缆接头损耗双向平均值≤0.08DB/个B、G.652总光纤最大衰耗值≤0.22DB/km（1550nm窗口）或≤0.38DB/km（1310nm窗口）C、G.655光纤设计不做要求时仅测试1550nm窗口D、G.655总光纤最大衰耗值≤0.22DB/km（1550nm窗口）E、G.652光缆接头损耗双向取最大值
填空题单模光纤（1550nm、1310nm）波长的每根光纤的最大接头损耗双向平均，应小于等于0.08db／个，中继段内光缆接头平均损耗，应小于等于（）／个。