多选题以下关于DW检验的说法,不正确的有()A要求样本容量较大B-1≤DW≤1C可用于检验高阶序列相关D能够判定所有情况E只适合一阶线性序列相关

多选题
以下关于DW检验的说法,不正确的有()
A

要求样本容量较大

B

-1≤DW≤1

C

可用于检验高阶序列相关

D

能够判定所有情况

E

只适合一阶线性序列相关


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相关考题:

用于检验序列相关的DW统计量的取值范围是()。A.0DW1B.-1DW1C.-2DW2D.0DW4

下列说法正确的是( )。A.自相关检验方法有DW检验法、LM检验法、增加样本容量等 B.异方差的检验方法有很多,简单直观的方法是残差图分析法 C.消除共线性的方法有多种,包括剔除一些不重要的解释变量、减少样本容量D.以上说法均正确

以下哪种检验方法的零假设为:B1=B2=⋯=Bm=0? A.r检验B.F检验C.t检验D.DW检验

关于DM与DW的说法,下列不正确的是______。A.DM为DW提供了广泛的数据源B.DM为DW提供了决策支持C.DW是一种存储技术,包含了大量的历史数据、当前的详细数据以及综合数据D.DM是从大量的数据中挖掘出有用的信息和知识

在检验异方差的方法中,不正确的是( )A.Goldfeld-Quandt方法B.ARCH检验法C.White检验法D.DW检验法

下列说法不正确的是( )A.多重共线性产生的原因有模型中大量采用滞后变量B.多重共线性是样本现象C.检验多重共线性的方法有DW检验法D.修正多重共线性的方法有增加样本容量

异方差的检验方法有( )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法A.Ⅱ.Ⅲ.ⅣB.Ⅰ.Ⅲ.ⅣC.Ⅰ.Ⅱ.ⅣD.Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ

异方差的检验方法有( )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法A:Ⅱ.Ⅲ.ⅣB:Ⅰ.Ⅲ.ⅣC:Ⅰ.Ⅱ.ⅣD:Ⅰ.Ⅱ.Ⅲ

时间序列分析中常用的检验有( )。A.协整检验B.单位根检验C.DW检验D.格兰杰因果检验

杜宾一瓦森DW检验法是常用的序列相关性检验方法,以下关于DW检验说法正确的是( )。A.DW值在2附近左右时为正相关B.DW值接近0时为负相关C.DW值的取值范围为[-4,4]D.DW值接近4时为负相关

时间序列分析中常用的检验有( )。A、协整检验B、单位根检验C、DW检验D、格兰杰因果检验

简述DW检验的局限性。

DW检验的原假设为()A、DW=0B、ρ=0C、DW=1D、ρ=1

以下关于DW检验的说法,不正确的有()A、要求样本容量较大B、-1≤DW≤1C、可用于检验高阶序列相关D、能够判定所有情况E、只适合一阶线性序列相关

关于DM与DW的说法,下列不正确的是()A、DM为DW提供了广泛的数据源B、DM为DW提供了决策支持C、DW是一种存储技术,包含了大量的历史数据、当前的详细数据以及综合数据D、DM是从大量的数据中挖掘出有用的信息和知识

用于检验序列相关的DW统计量的取值范围是()。A、0≤DW≤1B、-1≤DW≤1C、-2≤DW≤2D、0≤DW≤4

对自回归模型进行自相关检验时,下列说法正确的有()。A、使用DW检验有效B、使用DW检验时,DW值往往趋近于0C、使用DW检验时,DW值往往趋近于2D、使用DW检验时,DW值往往趋近于4

DW检验法

DW检验

在检验异方差的方法中,不正确的是()A、 Goldfeld-Quandt方法B、 ARCH检验法C、 White检验法D、 DW检验法

以dl表示统计量DW的下限分布,du表示统计量DW的上限分布,则DW检验的不确定区域是()。A、du≤DW≤4-duB、4-du≤DW≤4-dlC、dl≤DW≤duD、4-dl≤DW≤4E、0≤DW≤dl

在检验异方差性的方法中,不正确的是()。A、戈德菲尔德—匡特检验方法B、戈里瑟检验法C、怀特检验法D、DW检验法

自相关检验方法有()。A、DW检验法B、ADF检验法C、LM检验法D、回归检验法

单选题用于检验序列相关的DW统计量的取值范围是()。A0≤DW≤1B-1≤DW≤1C-2≤DW≤2D0≤DW≤4

单选题回归模型进行自相关检验,直接用DW检验,那么DW的值接近于几,检验是否有效:()-[DW=0时,残差序列存在完全正自相关,DW=(0,2)时,残差序列存在正自相关,DW=2时,残差序列无自相关,DW=(2,4)时,残差序列存在负自相关,DW=4时,残差序列存在完全负自相关。]A1B2C3D4

单选题自相关检验方法有(  )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.ADF检验法Ⅲ.LM检验法Ⅳ.回归检验法AⅠ、Ⅱ、ⅢBⅠ、Ⅱ、ⅣCⅠ、Ⅲ、ⅣDⅡ、Ⅲ、Ⅳ

单选题异方差的检验方法有(  )。Ⅰ.DW检验法Ⅱ.White检验Ⅲ.Glejser检验等Ⅳ.残差图分析法AⅠ、Ⅱ、ⅢBⅠ、Ⅱ、ⅣCⅠ、Ⅲ、ⅣDⅡ、Ⅲ、Ⅳ