单选题零件纵向磁化后可探测与零件轴线()或()的缺陷。A平行/近平行B垂直/近垂直C平行/近垂直D垂直/近平行

单选题
零件纵向磁化后可探测与零件轴线()或()的缺陷。
A

平行/近平行

B

垂直/近垂直

C

平行/近垂直

D

垂直/近平行


参考解析

解析: 暂无解析

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磁粉探伤时采用______磁化方法可以探测零件横截面上的缺陷。A.纵向B.周向C.交流电D.直流电

零件复合磁化后可探测零件上______的缺陷。 A.轴向B.周向C.端面上D.任意方向

磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时,当零件在磁场中磁化后会产生______来探测缺陷。 A.磁力线B.涡流C.漏磁场D.次级磁场

磁粉探伤时采用______磁化方法探测零件任意方向的缺陷。 A.纵向B.周向C.复合D.交流电

磁粉探伤时采用______磁化方法探测零件纵截面上的缺陷。 A.纵向B.周向C.直流电D.交流电

磁粉探伤时采用交流电磁化,可探测零件表面下______以内的缺陷。 A.1mmB.2mmC.3mmD.4mm

零件复合磁化后可探测零件上()的缺陷。A、轴向B、周向C、端面上D、任意方向

检查管状零件表面纵向缺陷采用哪种类型的磁场最好?():A、纵向磁场B、周向磁场C、摆动磁场D、磁轭磁化

磁粉探伤时采用交流电磁化,可探测零件表面()以内的缺陷。A、1mmB、2mmC、3mmD、4mm

磁粉探伤时采用()磁化方法探测零件纵截面上的缺陷。A、纵向B、周向C、直流电D、交流电

磁粉探伤时采用()磁化方法探测零件任意方向的缺陷。A、纵向B、周向C、复合D、交流电

磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时,当零件在磁场中磁化后会产生()来探测缺陷。A、磁力线B、涡流C、漏磁场D、次级磁场

经过周向磁化的零件和经过纵向磁化的零件相比,在不退磁的情况下,哪种磁化方式保留的残留磁场最有害?()A、纵向磁化B、周向磁化C、复合磁化D、剩余磁化

为检测空心零件内壁上的纵向和端面径向的缺陷,应当采用()。A、轴向通电法磁化B、线圈法磁化C、芯棒法磁化D、电磁轭整体磁化

为了检验空心零件内壁上的纵向缺陷,应当()。A、轴向通电磁化B、线圈通电磁化C、芯棒通电磁化D、以上都不对

经过周向磁化的零件和经过纵向磁化的零件相比,在不退磁的情况下,()保留的残留磁场最有害。A、纵向磁化B、周向磁化C、复合磁化D、剩余磁化

在检查空心零件内表面纵向缺陷时,应该使用()磁化法。A、零件直接通以磁化电流B、零件置于线圈中C、电流通入中心导体D、电流增大

对零件进行周向磁化,可用来探测下列哪种缺陷?()A、平行于零件纵轴的缺陷。B、垂直于零件纵轴的缺陷。C、与零件内磁力线同心圆相平行的缺陷。D、零件内磁力线同心圆半径方向的缺陷。

单选题经过周向磁化的零件和经过纵向磁化的零件相比,在不退磁的情况下,哪种磁化方式保留的残留磁场最有害?()A纵向磁化;B周向磁化;C复合磁化;D剩余磁化

单选题磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时,当零件在磁场中磁化后会()来探测缺陷。A磁力线B涡流C漏磁场D次级磁场

单选题在检查空心零件内表面纵向缺陷时,应该使用()磁化法:A零件直接通以磁化电流B零件置于线圈中C电流通入中心导体D电流增大

单选题磁粉探伤时采用交流电磁化,可探测零件表面下()以内的缺陷。A1mmB2mmC3mmD4mm

单选题为了检验空心零件内壁上的纵向缺陷,应当()。A轴向通电磁化B线圈通电磁化C芯棒通电磁化D以上都不对

单选题周向磁化是零件磁化后在零件内产生()零件轴线的磁力线。A平行B近平行C垂直D近垂直

单选题为检测空心零件内壁上的纵向和端面径向的缺陷,应当采用()。A轴向通电法磁化B线圈法磁化C芯棒法磁化D电磁轭整体磁化

单选题纵向磁化是零件磁化后在零件内产生()零件轴线的磁力线。A平行B近平行C垂直D近垂直

单选题零件周向磁化后可探测与零件轴线()或()的缺陷。A平行/近平行B垂直/近垂直C平行/近垂直D垂直/近平行

单选题零件纵向磁化后可探测与零件轴线()或()的缺陷。A平行/近平行B垂直/近垂直C平行/近垂直D垂直/近平行