多选题关于卷褶伪影的叙述，正确的是（ ）。A卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致B卷褶伪影主要发生在频率编码方向上C变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影D施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影E增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
多选题
关于卷褶伪影的叙述，正确的是（ ）。
A
卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致
B
卷褶伪影主要发生在频率编码方向上
C
变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影
D
施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影
E
增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
参考解析
解析：
B项，卷褶伪影主要发生在相位编码方向上；E项，增大FOV可消除卷褶伪影。
B项，卷褶伪影主要发生在相位编码方向上；E项，增大FOV可消除卷褶伪影。
相关考题：
关于卷褶伪影的说法，正确的是A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的B、卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现C、卷褶伪影出现在频率编码方向D、卷褶伪影出现在相位编码方向E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上
在下列有关MRI卷褶伪影的表述中，错误的是：()。A、受检物体尺寸大于FOV的大小 ，FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧B、卷褶伪影通常出现在相位编码方向上C、卷褶伪影通常出现在频率编码方向上D、增大FOV可有效避免卷褶伪影E、在相位编码上过度采样能避免褶伪影
多选题关于卷褶伪影的叙述，正确的是（）A卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致B卷褶伪影主要发生在频率编码方向上C变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影D施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影E增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
单选题关于卷褶伪影的描述，不正确的是（ ）。A使用无相位卷褶可去除此伪影B被检部位的解剖结构大小超出FOV范围C加大FOV可去除此伪影D主要发生于相位编码方向E将检查部位的最小直径方向摆在频率编码方向上
单选题在下列有关MRI卷褶伪影的表述中，错误的是（）A受检物体尺寸大于FOV的大小，FOV外的组织信号将折叠到图像另一侧B卷褶伪影通常出现在相位编码方向上C卷褶伪影通常出现在频率编码方向上D增大FOV可有效避免卷褶伪影E在相位编码上过度采样能避免褶伪影
单选题不属于磁共振伪影的是（）。A化学位移伪影B运动伪影C卷褶伪影D截断伪影E放射状伪影