金属丝应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为()。 A、金属丝几何尺寸的变化B、金属丝材料弹性模量的变化C、金属丝电阻率的变化D、金属丝压阻系数的变化
固体材料受力变形后，其电阻率发生变化，这种效应称为：A、压电效应B、压阻效应C、霍尔效应D、多普勒效应
压阻效应中由于几何形状改变引起的电阻变化很小。() 此题为判断题(对，错)。
压阻式压力传感器是利用（）的原理（半导体材料受压时电阻车发生变化）直接将压力转换为电信号A、压阻效应B、光电效应C、电磁感应D、霍尔效应
半导体材料的压阻效应以几何尺寸变化引起的阻值变化为主。
在外力作用下，金属应变式传感器主要产生几何尺寸变化，而压阻式传感器主要是（）发生变化，两者都引起电阻值发生变化。
金属导体或半导体在外力作用下产生机械变形而引起导体或半导体的电阻值发生变化的物理现象称为（）A、光电效应B、压电效应C、压阻效应D、应变效应
压阻压力计测压依据的原理是（）。A、温度电阻效应B、压阻效应C、应变效应
采用热电阻测温需要（）。A、压阻效应B、温度电阻效应C、压电效应
金属电阻丝的弯曲部分受力横向缩短引起电阻值的减少，对轴向伸长作用引起的电阻增加量起抵消作用，使得测量应变值偏小，这种现象称为（）。A、应变效应B、压阻效应C、压电效应D、横向效应
压电材料按一定方向放置在交变电场中，其几何尺寸将随之发生变化，这称为（）效应。A、压电B、压阻C、压磁D、逆压电
体系即使在很小的力作用下，也会引起几何形状改变，这类体系称为（）。
金属导线的电阻随其变形而发生改变的一种物理现象，称为（）。A、应变效应B、压阻效应C、压电效应D、热电效应
金属丝的电阻随着它所受的机械形变的大小而发生变化，这个现象称为金属电阻的（）。A、应变效应B、压阻效应C、压电效应D、热电阻效应
什么叫电阻应变效应和压阻效应？电阻应变片有哪几种？
电阻应变式传感器是利用金属的（）将被测机械量转换成（）A、电阻应变效应，电阻变化；B、压电效应，电压变化；C、热电效应，电流变化；D、热阻效应，电阻变化
关于电阻应变片，下列说法中正确的是（）A、应变片的轴向应变小于径向应变B、金属电阻应变片以压阻效应为主C、半导体应变片以应变效应为主D、金属应变片的灵敏度主要取决于受力后材料几何尺寸的变化
半导体材料的电阻率随作用应力而变化的效应称为（）。A、压电效应B、霍尔效应C、热电效应D、压阻效应
金属丝的电阻随着它所受的机械变形（拉伸或压缩）的大小而发生相应的变化的现象称为金属的（）。A、电阻形变效应B、电阻应变效应C、压电效应D、压阻效应
压电材料按一定方向置放在交变电场中，其几何尺寸随之发生变化，称为（）效应。A、压电B、压阻C、逆压电D、压磁
金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化，其主要原因是（）A、压阻效应B、压磁效应C、压电效应D、电阻丝的几何尺寸变化
单选题压电材料按一定方向放置在交变电场中，其几何尺寸将随之发生变化，这称为（）效应。A压电B压阻C压磁D逆压电
单选题金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化，其主要原因是（）A压阻效应B压磁效应C压电效应D电阻丝的几何尺寸变化
单选题金属应变片和半导体应变片主要区别描述错误的是（）A金属应变片主要利用压阻效应B金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化C半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化D半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高，但非线性误差大。
单选题采用热电阻测温需要（）。A压阻效应B温度电阻效应C压电效应
判断题压阻效应中由于几何形状改变引起的电阻变化很小A对B错
单选题压阻压力计测压依据的原理是（）。A温度电阻效应B压阻效应C应变效应