用直探头检验钢锻件时,引起底波明显降低或消失的因素有()。 A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
超声波检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用()A.较低频探头B.较粘的耦合剂C.软保护膜探头D.以上都对
探头软保护膜和硬保护膜相比，突出优点是（）A、透声性能好B、材质衰减小C、有利消除耦合差异D、以上全部
薄壁管超声探伤采用水浸的目的是（）A、减少摩擦B、耦合声能C、冷却探头D、上述三种目的都有
对表面粗糙的工件进行超声波探伤时，应考虑采用（）A、等于大于5MHz的工作频率B、透声性好粘度大的耦合剂C、晶片尺寸小的探头D、以上全部
超声检测中,选用晶片尺寸大的探头优点是（）。 A、 曲面检测时可减少耦合损失B、 可减少材质衰减损失C、 辐射声能大D、 声束能量
超声波检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）A、较低频探头B、较粘的耦合剂C、软保护膜探头D、以上都对
用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
超声波检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（）。A、曲面探伤时减少耦合损失B、减少材质衰减损失C、辐射声能大且能量集中D、以上都是
超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用探头（）。A、较低频探头B、较粘的耦合剂C、软保护膜探头D、以上都是
超声波探伤，为获得稳定的耦合状态，在曲面探伤时探头上可加用（）。
为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法（）A、使用高声阻抗耦合剂B、使用软保护膜探头C、使用较低频率和减少探头耦合面尺寸D、以上都可以
超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）A、较低频探头B、较粘的耦合剂C、软保护膜探头D、以上都对
探头晶片尺寸（），半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。
在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，可以（）。A、不考虑探伤面的声能损失补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不使用校正试块D、以上都不行
填空题探头晶片尺寸（），半扩散角减少，波束指向性变好，超声波能量集中，对探伤有利。
单选题超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）A较低频探头B较粘的耦合剂C软保护膜探头D以上都对
单选题对表面粗糙的工件进行超声波探伤时，应考虑采用（）A等于大于5MHz的工作频率B透声性好粘度大的耦合剂C晶片尺寸小的探头D以上全部
多选题在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，可以（）。A不考虑探伤面的声能损失补偿B不考虑材质衰减的补偿C不使用校正试块D以上都不行
单选题在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以：（）A不考虑探伤面的声能损失补偿B不考虑材质衰减的补偿C不使用校正试块D以上都是
单选题为减少凹面探伤时的耦合损耗，通常采用以下方法：（）A使用高声阻抗耦合剂B使用软保护膜探头C使用较低频率和减少探头耦合面尺寸D以上都可以
单选题薄壁管超声探伤采用水浸的目的是（）A减少摩擦B耦合声能C冷却探头D上述三种目的都有
单选题超声波检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用（）A较低频探头B较粘的耦合剂C软保护膜探头D以上都对
单选题超声波检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是（）A曲面探伤时减少耦合损失B减少材质衰减损失C辐射声能大且能量集中D以上都对
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A底面与探伤面不平行B工件内部有倾斜的大缺陷C工件内部有材质衰减大的部位D以上全部
单选题超声检测中,选用晶片尺寸大的探头优点是（）。A 曲面检测时可减少耦合损失B 可减少材质衰减损失C 辐射声能大D 声束能量
单选题超声检验中，选用镜片尺寸大的探头的优点是（）A曲面探伤时可减少耦合损失B可减少材质衰减损失C辐射声能大且能量集中D以上全部