热缺陷亦称本征缺陷,其缺陷浓度随着温度的升高呈指数的变化;杂志缺陷亦称非本征缺陷,其缺陷浓度与温度无关。

热缺陷亦称本征缺陷,其缺陷浓度随着温度的升高呈指数的变化;杂志缺陷亦称非本征缺陷,其缺陷浓度与温度无关。


参考答案和解析
A

相关考题:

某变电站进行红外热像检测,测量某电容器熔丝发热温度为100摄氏度,不考虑相对温差的情况下,其缺陷应报()一般缺陷$;$严重缺陷$;$重大缺陷$;$危急缺陷

断路器中间触头热点温度>80℃或δ≥95 的缺陷性质为( )。一般缺陷$;$严重缺陷$;$重大缺陷$;$危急缺陷

过热缺陷中,( )是指设备存在过热,程度较重,温度场分布梯度较大,温差较大的缺陷。一般缺陷 $;$严重缺陷 $;$重大缺陷 $;$危急缺陷

视觉障碍亦称“视觉缺陷”,是指()

内部控制缺陷按其影响的主要对象分为()。A、财务报告缺陷B、非财务报告缺陷C、重大缺陷D、重要缺陷E、一般缺陷

线热点温度大于80℃属()A、重大缺陷B、一般缺陷C、紧急缺陷D、热隐患

内部控制缺陷按其成因分为设计缺陷和运行缺陷,按其影响程度分为()。A、重大缺陷B、重要缺陷C、一般缺陷D、单独缺陷和组合缺陷

在离子型材料中,影响扩散的缺陷来自两个方面:热缺陷和掺杂点缺陷。由它们引起的扩散分别称为()。A、自扩散和互扩散B、本征扩散和非本征扩散C、无序扩散和有序扩散D、稳定扩散和不稳定扩散

在离子型材料中,影响扩散的缺陷来自两个方面:热缺陷与不等价置换产生的点缺陷,后者引起的扩散为()。A、互扩散B、无序扩散C、非本征扩散D、本征扩散

晶体的热缺陷有()两类,热缺陷浓度与温度的关系式为()

本征离子电导的导电离子(载流子)主要由什么缺陷提供?其载流子浓度:n=Nexp(E/2kT)中E的物理意义是什么?

磁力线是连续的,由缺陷形成的漏磁场其强度与缺陷深度无关。

内部控制缺陷按照其影响程度包括()。A、设计缺陷、运行缺陷B、重大缺陷、重要缺陷C、重大缺陷、重要缺陷、设计缺陷、运行缺陷D、重大缺陷、重要缺陷、一般缺陷

按照影响内控目标的具本表现形式,兴业银行将内控缺陷分为()A、财务报告缺陷B、非财务报告缺陷C、设计缺陷D、运行缺陷

由肖特基缺陷引起的扩散为()A、本征扩散B、非本征扩散C、正扩散D、负扩散

()是指设备最高温度超过GB/T11022规定的最高允许温度的缺陷。这类缺陷应立即安排处理。A、一般缺陷B、严重缺陷C、重大缺陷D、危急缺陷

单选题由肖特基缺陷引起的扩散为()A本征扩散B非本征扩散C正扩散D负扩散

单选题热缺陷亦称为本征缺陷,是指由热起伏的原因所产生的空位或间隙质点(原子或离子)。生成弗仑克尔缺陷(Frenkeldefect)时,()。A间隙和空位质点同时成对出现B正离子空位和负离子空位同时成对出现C正离子间隙和负离子间隙同时成对出现D正离子间隙和位错同时成对出现

单选题在离子型材料中,影响扩散的缺陷来自两个方面:热缺陷和掺杂点缺陷。由它们引起的扩散分别称为()。A自扩散和互扩散B本征扩散和非本征扩散C无序扩散和有序扩散D稳定扩散和不稳定扩散

问答题辨别本征和非本征缺陷。

填空题晶体的热缺陷有()两类,热缺陷浓度与温度的关系式为()

单选题点缺陷与材料的电学性质、光学性质、材料的高温动力学过程等有关,以下点缺陷中属于本征缺陷的是()。A弗仑克尔缺陷B肖特基缺陷C杂质缺陷DA+B

多选题按照影响内控目标的具本表现形式,兴业银行将内控缺陷分为()A财务报告缺陷B非财务报告缺陷C设计缺陷D运行缺陷

单选题晶体中的热缺陷的浓度随温度的升高而()。A增加B不变C降低

单选题在离子型材料中,影响扩散的缺陷来自两个方面:热缺陷与不等价置换产生的点缺陷,后者引起的扩散为()。A互扩散B无序扩散C非本征扩散D本征扩散

单选题晶体中的热缺陷的浓度随温度的升高而增加,其变化规律是()。A线性增加B呈指数规律增加C无规律D线性减少

多选题内部控制缺陷按其影响的主要对象分为()。A财务报告缺陷B非财务报告缺陷C重大缺陷D重要缺陷E一般缺陷

问答题晶体的缺陷浓度为何随温度升高而加大?