单选题对形状复杂和厚度差大的零件进行射线透照时,为了减少射线束中易产生散射的软射线的影响,可采用()。A在射线机窗口安装滤波板B将不必曝光的区域用铅板遮蔽C用荧光增感D以上都不可

单选题
对形状复杂和厚度差大的零件进行射线透照时,为了减少射线束中易产生散射的软射线的影响,可采用()。
A

在射线机窗口安装滤波板

B

将不必曝光的区域用铅板遮蔽

C

用荧光增感

D

以上都不可


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

宽束X射线透照工件时,若入射线强度为I0,未散射的射线强度为I,散射线的强度为IS,则散射比的定义为()。

对形状复杂和厚度差大的零件进行射线透照时,为了减少射线束中易产生散射的软射线的影响,可采用()。A、在射线机窗口安装滤波板B、将不必曝光的区域用铅板遮蔽C、用荧光增感D、以上都不可

下列各项中决定双壁透照双壁成像(椭圆成像)时射线源偏移距离的因素是()A、透照厚度比B、有效透照区C、射线束照射角D、焊缝热影响区宽度

宽束X射线透照工件时,若入射线强度为Io,未散射的射线强度为I,散射线的强度为Is,则散射比的定义为Io/Is

用连续宽束X射线透照试件,试件的厚度越大,则散射比n越大。

在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、()和减少散射线对底片的影响。A、减小宽容度B、增大宽容度C、增大厚度D、减小厚度

窄束射线和宽束射线,在透照工件时出现下列情况()。A、窄束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B、宽束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C、窄束透照工件时,只有未散射的透过射线I到达检测器D、以上B和C均正确

为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响,经常采用的措施是铅板遮盖工件非透照部分。

宽束X射线透照工件时,若入射线强度为Io,未散射的射线强度为I,散射线的强度为Is,则散射比的定义为()。A、 Io/IsB、 I/IsC、 Is/ID、 Io/I

与低能射线透照相比,高能射线透照具有的特点()。A、 宽容度大B、 对比度较高C、 感光速度快D、 散射线影响大

关于散射线及其影响因素的叙述,错误的是()A、散射线是离开原射线线束的折射光子B、管电压越高,散射线越多C、增感屏感度越高,散射线越少D、在一定厚度内,被照体越厚散射线越多E、照射野是产生散射线的重要因素之一

关于散射线及其影响因素的说法,错误的是( )A、散射线是离开原射线线束的折射光子B、管电压越高,散射线越多C、增感屏感度越高,散射线越少D、在一定厚度内,被照体越厚散射线越多E、照射野是产生散射线的重要因素

在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。

单选题窄束射线和宽束射线,在透照工件时出现下列情况()。A窄束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器B宽束透照工件时,未散射的透过射线I和工件的散射线IS均到达检测器C窄束透照工件时,只有未散射的透过射线I到达检测器D以上B和C均正确

填空题在射线探伤中,影响缺陷检测的因素很多,除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。

单选题下列有关散射线含有率影响因素说法,错误的是(  )。A散射线含有率随管电压的升高而加大B散射线含有率则随被照体厚度的增加而大幅度增加C原发射线能量越大,所产生的散射线光子的散射角越小D当照射野增大时,散射线含有率大幅度上升E被照体厚度对散射线的影响小于管电压的影响

单选题关于散射线及其影响因素的叙述,错误的是?()A散射线是离开原射线线束的折射光子B管电压越高,散射线越多C增感屏感度越高,散射线越少D在一定厚度内,被照体越厚散射线越多E照射野是产生散射线的重要因素之一